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PD-QE 光譜響應(yīng)測試與光電探測器特性分析

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 光焱科技股份有限公司
  • 品牌 Enlitech
  • 型號 PD-QE
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2025/3/13 14:37:23
  • 訪問次數(shù) 3080

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聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!


光焱科技股份有限公司介紹

 

Enlitech光焱科技創(chuàng)建于2009年,,專精量子效率(Quantum Efficiency/ SR/ IPCE)測量,從事科學(xué)儀器的研發(fā),、客制化生產(chǎn)并提供客戶一站式解決方案及服務(wù),。

 

  • R&D 創(chuàng)新研發(fā)、技術(shù)整合,、客戶端解決方案

 

在日新月異的太陽能光伏/半導(dǎo)體/材料科學(xué)/化學(xué)領(lǐng)域中,,為客戶預(yù)先提供“下一步”解決方案,幫助客戶實現(xiàn)在科學(xué)研究,、技術(shù)和產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域的專業(yè)和創(chuàng)新突破,。我們擁有光學(xué)技術(shù)、機構(gòu)設(shè)計,、電子與電控技術(shù)整合,、軟體與資料庫設(shè)計開發(fā),根據(jù)產(chǎn)業(yè)動態(tài),、豐富業(yè)務(wù)經(jīng)驗,,為客戶提供產(chǎn)品與專案企劃、咨詢需求到系統(tǒng)運營的整合性服務(wù),。成功協(xié)助客戶在半導(dǎo)體材料,、太陽能電池、鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell),、新型材料研究及影像傳感器(CMOS Sensor),、相機(含手機相機,、工業(yè)相機及科學(xué)及相機)等領(lǐng)域的研發(fā)上取得許多重大突破并獲得*成果。

 

  • 鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell)應(yīng)用服務(wù)

 

擴展鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell, PSC)應(yīng)用領(lǐng)域,、提高轉(zhuǎn)換效率,,是近年前沿研究的主要課題。近十年,,鈣鈦礦太陽能電池光電轉(zhuǎn)換效率的成長紀(jì)錄不斷刷新世界紀(jì)錄,,目前已達到23.3%,成為太陽能電池領(lǐng)域的新秀,!由于鈣鈦礦太陽電池具有高度不穩(wěn)定性,、衰減速率快等特性,成為研究人員面臨的挑戰(zhàn),。我們針對鈣鈦礦太陽能電池的特性,,提供涵蓋設(shè)計、研發(fā),、軟體,、測樣、分析管理等測量儀器與整合方案,,讓客戶能有效,、準(zhǔn)確地測出鈣鈦礦太陽能電池的轉(zhuǎn)換效率,,為客戶研究創(chuàng)新帶來優(yōu)勢,。

 

  • 多元產(chǎn)業(yè)應(yīng)用服務(wù)

 

光焱科技將光電檢測技術(shù),延伸至半導(dǎo)體,、材料科學(xué),、LED發(fā)光材料、航太應(yīng)用及生醫(yī)領(lǐng)域,,提供專案研發(fā)和實驗室儀器配套應(yīng)用的制造,、整合、測試和維護管理供應(yīng)鏈服務(wù),。服務(wù)亦涵蓋標(biāo)定校正設(shè)備的客制研發(fā),,為科學(xué)研究、檢測認證,、新產(chǎn)品開發(fā),、制造生產(chǎn)提供完整可靠的一站式解決方案。

技術(shù)與維護服務(wù)

 

光焱科技自2012年起陸續(xù)在大陸,、日本,、美國、中東及印度建立銷售通路及售后服務(wù)據(jù)點,,我們致力于提供給客戶完整的檢測分析工具,,即時提供合適的解決方案,,協(xié)力科學(xué)研究、助力產(chǎn)業(yè)升級創(chuàng)新,。我們的標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)品及專案能依據(jù)客戶需求進行調(diào)整和擴展,,服務(wù)分為四大類別:

 

*專案解決方案:依據(jù)客戶需求進行新產(chǎn)品研發(fā)/產(chǎn)品升級/系統(tǒng)整合等服務(wù)。

 

*One-stop-shop 一站式統(tǒng)合服務(wù):涵蓋多元的廠牌合作服務(wù),。

 

*維護管理服務(wù):提供維修及產(chǎn)品健檢管理服務(wù),。

 

*快速支援服務(wù):涵蓋售前售后客服支援、技術(shù)支援,、科研支援服務(wù),。

 

QE量子效率測試儀,3A

產(chǎn)地類別 進口 應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子
偏置電壓 由20V~1000V 價格區(qū)間 面議
測量模式 咨詢光焱科技專家

產(chǎn)品介紹


此系統(tǒng)與手套箱無縫整合,,為分析敏感材料和組件提供了理想的環(huán)境,。

PD-QE 結(jié)合先進科技與使用者友善的設(shè)計,讓研究人員和工程師能夠探索光譜學(xué)的新領(lǐng)域,,并釋放光電探測器的全部潛力,。

光電探測器基本特性分析設(shè)備的可用性對于這些組件的開發(fā)者和用戶都至關(guān)重要。

 不同的應(yīng)用領(lǐng)域,,例如光電二極管制造商,、光纖通訊系統(tǒng)開發(fā)商、太陽能電池板制造商,、大學(xué)和研究機構(gòu)的實驗室以及質(zhì)量控管公司,,在功能方面可能有其他特定需求,包括所需的檢測范圍,、分辨率或?qū)μ囟ōh(huán)境條件的適應(yīng)性,。

傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測器的測試中面臨許多挑戰(zhàn)。 例如:

  1.偏置電壓無法超過12V:傳統(tǒng)量子效率系統(tǒng)使用鎖相放大器,,其承受直流電壓無法過大,,因此在一般的量子效率測試儀,電偏壓無法施加超過12V,。

  2.無法做噪聲頻率分析,。

  3.無法直接測得NEP與D*。

光焱科技針對新世代的光電探測器(PD)提供了完整解決方案,,命名為PD-QE,。

特色

1.高精度測量:

 PD-QE提供高精度的EQE和IV曲線測量,光源不穩(wěn)定度低于1%,,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性,,滿足客戶對高精度測量的期望。

2.集成多功能性:

 PD-QE 集成了多種功能,包括 EQE 測試,、IV 曲線檢測,、D* 分析、NEP 分析和頻率噪聲頻譜分析,。 這種整合為客戶提供了一站式性能評估解決方案,,滿足他們對整合多功能性的期望。

3.靈敏度測試:

 PD-QE 能夠測量高分辨率的光電流(分辨率高達 10^-14 安培),,使其適用于測試高靈敏度的光電探測器,。 這有助于客戶準(zhǔn)確評估探測器在低光照條件下的性能,滿足他們對靈敏度測試的期望,。

4.寬波長范圍:

 PD-QE 適用于各種光電探測器,,無論是在研發(fā)階段還是生產(chǎn)線上,都能提供的性能測試能力,。

5.優(yōu)異的光束控制技術(shù):

 PD-QE 通過其光束耦合模塊提供精確的光束尺寸控制 (1*1 平方毫米),,滿足精確光束控制的要求。 這讓客戶能夠進行精確的性能測試,,并模擬特定的應(yīng)用情境,。 這滿足了客戶對精確光束控制的需求,幫助他們執(zhí)行更準(zhǔn)確的效能評估和優(yōu)化,。

6.寬廣的偏壓電壓范圍:

 PD-QE支持從20伏特到200伏特的偏壓電壓調(diào)整,,滿足客戶在不同電壓條件下測試光電探測器的需求。 這有助于客戶全面評估產(chǎn)品效能,,并確保在各種應(yīng)用條件下穩(wěn)定運作,。

7.易于操作和維護:

 PD-QE 采用用戶友善的設(shè)計,操作簡單,,維護成本低,,滿足客戶對易用性和維護性的需求。 這有助于客戶節(jié)省時間和成本,,同時保持高效的測試流程。

8.客戶支持和技術(shù)服務(wù):

 PD-QE 提供專業(yè)的客戶支持和技術(shù)服務(wù),,協(xié)助客戶快速解決使用過程中遇到的問題,,確保設(shè)備穩(wěn)定運作。 這滿足了客戶對及時有效支持的需求,,幫助他們維持高效的測試流程,。



規(guī)格



 ● 光源不穩(wěn)定性< 1%

 ● 單色光模:波長范圍 300~1100 nm。

 ● 光斑耦合模組光斑尺寸:1*1mm2 ,。

 ● 偏置電壓也可由20V到200V,。

 ● 可測量高分辨率的光電流,分辨率最高可達10~14 A。

 ● 波長擴充可達1800 nm,。


應(yīng)用


PD-QE光譜響應(yīng)測試與光電傳感器特性分析可用于

 ● 第三代半導(dǎo)體材料:光電二極體/光電探測器,。

 ● 有機光傳感器 (OPD, Organic Photodiode),。

 ● 鈣鈦礦光傳感器 (PPD,, Perovskite Photodiode)。

 ● 量子點光傳感器(QDPD,, Quantum Dots Photodiode),。

 ● 新型材料光傳感器。



實證

 ● NEP/D*:


光譜響應(yīng)測試與光電探測器特性分析


光譜響應(yīng)測試與光電探測器特性分析

PD-QE可直接針對器進進行頻率雜訊的測量與作圖,。


 EQE 光譜


光譜響應(yīng)測試與光電探測器特性分析


  PD-QE 可以進行 EQE 光譜測試,。除了標(biāo)準(zhǔn)的 300nm ~ 1100nm 波段,PD-QE 可擴展到 1800nm,。圖中顯示不同波長響應(yīng)器件,,在 PD-QE 系統(tǒng)下,測的 EQE 量子效率光譜,。


 ● 整合多種SMU控制進行IV曲線測試:



光譜響應(yīng)測試與光電探測器特性分析


  PD-QE 已整合 Keithley 與 Keysight 出產(chǎn)的多種 SMU,,進行多種的 IV 曲線掃描。用戶無需另外尋找或是自行整合 IV 曲線測試,。圖中顯示 PD-QE 測試不同樣品的 IV 曲線,,并進行多圖顯示。


 ● 噪聲電流頻譜圖:


光譜響應(yīng)測試與光電探測器特性分析


  PD-QE 憑借*進數(shù)字訊號采集與處理技術(shù),,直接可測試各種探測器在不同頻率下的噪聲電流圖,。用戶無需在額外購買、整合頻譜分析儀進行測種測試,!并且軟件可以進行多種頻段的特性分析,,如 Shot Noise、Johnson Noise,、1/f Noise 等,。PD-QE 是針對新世代 PD 測試的完整解決方案。







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