PD-QE 光譜響應(yīng)測試與光電探測器特性分析
- 公司名稱 光焱科技股份有限公司
- 品牌 Enlitech
- 型號 PD-QE
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/3/13 14:37:23
- 訪問次數(shù) 3080
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子 |
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偏置電壓 | 由20V~1000V | 價格區(qū)間 | 面議 |
測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
產(chǎn)品介紹
此系統(tǒng)與手套箱無縫整合,,為分析敏感材料和組件提供了理想的環(huán)境,。
PD-QE 結(jié)合先進科技與使用者友善的設(shè)計,讓研究人員和工程師能夠探索光譜學(xué)的新領(lǐng)域,,并釋放光電探測器的全部潛力,。
光電探測器基本特性分析設(shè)備的可用性對于這些組件的開發(fā)者和用戶都至關(guān)重要。
不同的應(yīng)用領(lǐng)域,,例如光電二極管制造商,、光纖通訊系統(tǒng)開發(fā)商、太陽能電池板制造商,、大學(xué)和研究機構(gòu)的實驗室以及質(zhì)量控管公司,,在功能方面可能有其他特定需求,包括所需的檢測范圍,、分辨率或?qū)μ囟ōh(huán)境條件的適應(yīng)性,。
傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測器的測試中面臨許多挑戰(zhàn)。 例如:
1.偏置電壓無法超過12V:傳統(tǒng)量子效率系統(tǒng)使用鎖相放大器,,其承受直流電壓無法過大,,因此在一般的量子效率測試儀,電偏壓無法施加超過12V,。
2.無法做噪聲頻率分析,。
3.無法直接測得NEP與D*。
光焱科技針對新世代的光電探測器(PD)提供了完整解決方案,,命名為PD-QE,。
特色
1.高精度測量:
PD-QE提供高精度的EQE和IV曲線測量,光源不穩(wěn)定度低于1%,,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性,,滿足客戶對高精度測量的期望。
2.集成多功能性:
PD-QE 集成了多種功能,包括 EQE 測試,、IV 曲線檢測,、D* 分析、NEP 分析和頻率噪聲頻譜分析,。 這種整合為客戶提供了一站式性能評估解決方案,,滿足他們對整合多功能性的期望。
3.靈敏度測試:
PD-QE 能夠測量高分辨率的光電流(分辨率高達 10^-14 安培),,使其適用于測試高靈敏度的光電探測器,。 這有助于客戶準(zhǔn)確評估探測器在低光照條件下的性能,滿足他們對靈敏度測試的期望,。
4.寬波長范圍:
PD-QE 適用于各種光電探測器,,無論是在研發(fā)階段還是生產(chǎn)線上,都能提供先進的性能測試能力,。
5.優(yōu)異的光束控制技術(shù):
PD-QE 通過其光束耦合模塊提供精確的光束尺寸控制 (1*1 平方毫米),,滿足精確光束控制的要求。 這讓客戶能夠進行精確的性能測試,,并模擬特定的應(yīng)用情境,。 這滿足了客戶對精確光束控制的需求,幫助他們執(zhí)行更準(zhǔn)確的效能評估和優(yōu)化,。
6.寬廣的偏壓電壓范圍:
PD-QE支持從20伏特到200伏特的偏壓電壓調(diào)整,,滿足客戶在不同電壓條件下測試光電探測器的需求。 這有助于客戶全面評估產(chǎn)品效能,,并確保在各種應(yīng)用條件下穩(wěn)定運作,。
7.易于操作和維護:
PD-QE 采用用戶友善的設(shè)計,操作簡單,,維護成本低,,滿足客戶對易用性和維護性的需求。 這有助于客戶節(jié)省時間和成本,,同時保持高效的測試流程。
8.客戶支持和技術(shù)服務(wù):
PD-QE 提供專業(yè)的客戶支持和技術(shù)服務(wù),,協(xié)助客戶快速解決使用過程中遇到的問題,,確保設(shè)備穩(wěn)定運作。 這滿足了客戶對及時有效支持的需求,,幫助他們維持高效的測試流程,。
規(guī)格
● 光源不穩(wěn)定性< 1%
● 單色光模:波長范圍 300~1100 nm。
● 光斑耦合模組光斑尺寸:1*1mm2 ,。
● 偏置電壓也可由20V到200V,。
● 可測量高分辨率的光電流,分辨率最高可達10~14 A。
● 波長擴充可達1800 nm,。
應(yīng)用
PD-QE光譜響應(yīng)測試與光電傳感器特性分析可用于:
● 第三代半導(dǎo)體材料:光電二極體/光電探測器,。
● 有機光傳感器 (OPD, Organic Photodiode),。
● 鈣鈦礦光傳感器 (PPD,, Perovskite Photodiode)。
● 量子點光傳感器(QDPD,, Quantum Dots Photodiode),。
● 新型材料光傳感器。
實證
● NEP/D*:
PD-QE可直接針對器進進行頻率雜訊的測量與作圖,。
● EQE 光譜:
PD-QE 可以進行 EQE 光譜測試,。除了標(biāo)準(zhǔn)的 300nm ~ 1100nm 波段,PD-QE 可擴展到 1800nm,。圖中顯示不同波長響應(yīng)器件,,在 PD-QE 系統(tǒng)下,測的 EQE 量子效率光譜,。
● 整合多種SMU控制進行IV曲線測試:
PD-QE 已整合 Keithley 與 Keysight 出產(chǎn)的多種 SMU,,進行多種的 IV 曲線掃描。用戶無需另外尋找或是自行整合 IV 曲線測試,。圖中顯示 PD-QE 測試不同樣品的 IV 曲線,,并進行多圖顯示。
● 噪聲電流頻譜圖:
PD-QE 憑借*進數(shù)字訊號采集與處理技術(shù),,直接可測試各種探測器在不同頻率下的噪聲電流圖,。用戶無需在額外購買、整合頻譜分析儀進行測種測試,!并且軟件可以進行多種頻段的特性分析,,如 Shot Noise、Johnson Noise,、1/f Noise 等,。PD-QE 是針對新世代 PD 測試的完整解決方案。