HiYield-EL 東譜科技電致發(fā)光量子效率測(cè)量?jī)x
- 公司名稱 東譜科技（廣州）有限責(zé)任公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) HiYield-EL
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/6/28 10:22:38
- 訪問次數(shù) 208
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞：電致發(fā)光,、IVL,、電致發(fā)光量子效率、量子效率,、亮度,、前向亮度、角度分辨,、器件壽命,、外量子效率,、發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)量系統(tǒng),、EQE,、JV、IV,、發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)量系統(tǒng) ,、CIE、色溫,、光譜功率分布 λ,、輻射通量、光通量,、相關(guān)色溫（CCT）,、顯色指數(shù)（CRI）、電功率密度,、積分球
▌ 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
電致發(fā)光量子效率測(cè)量?jī)xHiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測(cè)量平臺(tái)中的重要成員,，用于對(duì)電致發(fā)光樣品的發(fā)光特性進(jìn)行精確測(cè)量。HiYield 系統(tǒng)能夠以準(zhǔn)確的檢測(cè)精度對(duì)電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測(cè)量,，得到全面的測(cè)量的電致發(fā)光效率參數(shù)（量子效率EQE等）以及相關(guān)的電學(xué),、輻射度學(xué)、光度學(xué),、色度學(xué)等參數(shù),；同時(shí)該系統(tǒng)集成了穩(wěn)定性測(cè)試模塊，可以對(duì)器件的老化過程進(jìn)行測(cè)試,，且同時(shí)得到器件老化過程的全面信息,，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué),、輻射度學(xué),、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測(cè)試儀,，僅對(duì)電流,、電壓和相對(duì)亮度進(jìn)行測(cè)試），典型的包括電致發(fā)光效率/量子效率EQE,、壽命測(cè)試,、CIE、CRI,、CCT,、光譜響應(yīng)、光譜功率分布,、IV,、JV、總光譜輻射通量,、輻射通量,、光通量,、光效、光譜強(qiáng)度,、峰值波長(zhǎng),、FHWM等，廣泛應(yīng)用于各種類型的電致發(fā)光器件測(cè)量,。
▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)
□ 能夠以準(zhǔn)確的檢測(cè)精度對(duì)電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測(cè)量,，得到全面的測(cè)量的電致發(fā)光效率參數(shù)（外量子效率等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué),、光度學(xué),、色度學(xué)等參數(shù)；
□ 集成了穩(wěn)定性測(cè)試模塊,，可以對(duì)器件的老化過程進(jìn)行測(cè)試,，且同時(shí)得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率,、電學(xué),、輻射度學(xué),、光度學(xué),、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測(cè)試儀，僅對(duì)電流,、電壓和相對(duì)亮度進(jìn)行測(cè)試）,；
□ 由軟件控制測(cè)試過程,，操作便捷，圖表和數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示,；
□ 可快速、可靠對(duì)樣品的測(cè)試過程進(jìn)行追蹤,；
□ 具有實(shí)時(shí)測(cè)量,、預(yù)測(cè)量、定制測(cè)量,、掃描測(cè)量,、時(shí)間依賴測(cè)量等豐富的測(cè)量模式。
▌ 產(chǎn)品功能
□ 效率參數(shù)：發(fā)光效率/外量子效率EQE,、電流效率,、功率效率等；
□ 電學(xué)參數(shù)：電壓（V）,、電流（I）,、電流密度（J）、電功率（W）,、電功率密度等,；
□ 輻射度學(xué)：光譜功率分布,、輻射通量、光通量,、光視效能,、峰值波長(zhǎng)、主波長(zhǎng)等,；
□ 色度學(xué)：CIE 色度坐標(biāo),、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1（mred）,、顯色指數(shù)（CRI）,、RGB 顏色值等；
□ 穩(wěn)定性測(cè)試,。
■ 包含測(cè)量模式
√ 電壓掃描（含分段掃描,、循環(huán)掃描等）；
√ 電流掃描（含分段掃描,、循環(huán)掃描等）,；
√ 恒壓?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量；
√ 恒流單點(diǎn)測(cè)量,；
√ 穩(wěn)定性測(cè)量：不同老化時(shí)間下測(cè)量,。
▌ 產(chǎn)品應(yīng)用
□ 量子點(diǎn)發(fā)光二極管（QLED）
□ 有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）
□ 發(fā)光二極管（LED）
□ 鈣鈦礦發(fā)光二極管（PeLED）
□ 其它各種類型的電致發(fā)光器件等
▌ 規(guī)格型號(hào)
| 電致發(fā)光特性測(cè)量系統(tǒng) | ||||
| 系列 | HiYield-EL | |||
| 光譜儀 | ||||
| *光譜范圍 | 210-980nm | 225-1000nm | 350-1050nm | 900-1700nm |
| 探測(cè)器 | 制冷CCD | |||
| 系統(tǒng)信噪比 | 1000:1 | |||
| A/D分辨率 | 16/18 bit | |||
| 光學(xué)分辨率 | 0.14-7.7 nm FWHM | |||
| 動(dòng)態(tài)范圍 | 85000（典型） | |||
| 雜散光 | <0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm | |||
| 源表 | ||||
| 電壓范圍 | -210V~210V | |||
| 電流范圍 | -1.05A~1.05A | |||
| *分辨率 | 1pA / 100nV | 10fA-10nV | ||
| 積分球 | ||||
| *材料 | Spectralon、PTFE,、Spectraflect,、BaSO4等 | |||
| *內(nèi)徑 | 3.3 / 6 / 10 / 15 inch可選 | |||
| *反射率 | 400至1500 nm，大于99% | ＞97% | @600 nm 97-98% | ＞95% |
| 軟件 | ||||
| 測(cè)量模式 | ?電壓掃描（含分段掃描,、循環(huán)掃描等）,； | |||
| ?電流掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）,； | ||||
| ?恒壓?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量,； | ||||
| ?恒流單點(diǎn)測(cè)量； | ||||
| ?穩(wěn)定性測(cè)量：不同老化時(shí)間下測(cè)量,。 | ||||
| 功能參數(shù)類別 | ?效率參數(shù)（外量子效率,、電流效率、功率效率等）,； | |||
| ?電學(xué)參數(shù)：電壓（V）,、電流（I）、電流密度（J）,、電功率（W）,、電功率密度等； | ||||
| ?輻射度學(xué)：光譜功率分布、輻射通量,、光通量,、光視效能、峰值波長(zhǎng),、主波長(zhǎng)等,； | ||||
| ?色度學(xué)：CIE色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）,、MK-1（mred）,、顯色指數(shù)（CRI）、RGB顏色值等,； | ||||
| ?穩(wěn)定性測(cè)試,。 | ||||
| 測(cè)量夾具 | ||||
| *定制夾具 | 根據(jù)客戶樣品封裝設(shè)計(jì)夾具 | |||
*該產(chǎn)品或參數(shù)可根據(jù)客戶需求靈活配置
▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)
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