產(chǎn)品關(guān)鍵詞：載流子遷移率,、電子遷移率,、空穴遷移率、渡越時間,、飛行時間,、TOF、載流子壽命,、遷移率壽命積,、瞬態(tài)光電流、水平載流子,、橫向TOF,、橫向載流子、二維載流子成像mapping

FlyTOF飛行時間法遷移率測量儀是東譜科技HiTran瞬態(tài)綜合光電特性測量平臺中的重要成員,。該系統(tǒng)利用飛行時間法（time-of-flight,，TOF）測量半導(dǎo)體材料的遷移率以及相關(guān)的光電特性，廣泛適用于各類半導(dǎo)體材料,，如硅基半導(dǎo)體,、第二代半導(dǎo)體、第三代寬帶隙半導(dǎo)體,、有機半導(dǎo)體,、鈣鈦礦半導(dǎo)體、量子點半導(dǎo)體,、二維材料半導(dǎo)體,、金屬-有機框架（MOF）、共價有機框架（COF）等,。FlyTOF基于我司的MagicBox主機研制而成,，配備便捷的上位機控制和數(shù)據(jù)測量軟件，可助力客戶進行快速,、準確的測量,。FlyTOF是東譜科技源頭研發(fā)產(chǎn)品，是業(yè)內(nèi)新款自動化,、集成化的飛行時間法遷移率測試商業(yè)化設(shè)備,。

遷移特性是半導(dǎo)體基礎(chǔ)的性質(zhì)之一,，是半導(dǎo)體在電子學(xué)和光電子學(xué)等領(lǐng)域進行應(yīng)用的基礎(chǔ)。半導(dǎo)體的遷移率定義為單位電場下載流子的平均漂移速度,。TOF遷移率測試方法直接由遷移率的定義發(fā)展而來,。 相比于一些間接的遷移率測試方法,，如空間電荷限制電流（SCLC）法等，TOF的方法被認為是接近“真實”遷移率的一種測量方法,。通過TOF瞬態(tài)光電流信號的分析,，可以得到電子遷移率、空穴遷移率等參數(shù),；用戶還可以利用這些數(shù)據(jù),，結(jié)合材料的物理模型進行分析，得到雜質(zhì)濃度,、缺陷,、能帶混亂度、電荷跳躍距離等參數(shù),。

作為TOF遷移率測試方法商業(yè)化應(yīng)用的先行,，東譜科技已攜手客戶廣泛探索了FlyTOF在有機半導(dǎo)體、硅基半導(dǎo)體,、鈣鈦礦半導(dǎo)體,、二維材料、共價有機框架等領(lǐng)域的應(yīng)用,。東譜期待與您共同開拓FlyTOF更多的應(yīng)用領(lǐng)域,。

FlyTOF性能優(yōu)異，具有載流子遷移率測量值覆蓋10^-9~10^6 cm^2/(V.s),；專業(yè)的信號調(diào)教,，電磁兼容噪聲小； 行業(yè)優(yōu)秀的TOF測試功能,；軟件自動控制,，測試快速便捷；快速換樣裝置,，惰性氣體氛圍測試,；可實現(xiàn)寬溫度范圍的變溫測試（選配）；可通過可視化系統(tǒng)看到光斑照射情況,；可靈活耦合各種類型的激發(fā)光源等特點,。

可進行飛行時間法瞬態(tài)光電流測量、半導(dǎo)體材料電子遷移率測量,、半導(dǎo)體材料空穴遷移率測量,、載流子濃度測量,、載流子壽命測量、可選變溫測量,、可選Lateral-TOF測試功能及附件,、可選配TOF二維掃描（mapping）功能及附件；渡越時間,。

TranPVC廣泛應(yīng)用于有機半導(dǎo)體,、量子點半導(dǎo)體、元素半導(dǎo)體（Si,、Ge等）,、金屬-有機框架（MOF）、二維材料,、寬帶隙第三代半導(dǎo)體,、鈣鈦礦材料、化合物半導(dǎo)體（InGaAs等）,、共價有機框（COF）,、共價有機框（COF）以及其它半導(dǎo)體材料。