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Phenom Pharos-STEM 飛納臺(tái)式掃描透射電鏡

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司(簡稱“復(fù)納科技”)于 2012 年在上海成立,,聚焦荷蘭飛納臺(tái)式掃描電鏡在中國市場的推廣和應(yīng)用,,涵蓋領(lǐng)域包括材料、鋰電新能源、半導(dǎo)體,、生命科學(xué)和法醫(yī)檢測等,。

截止目前,復(fù)納科技服務(wù)超過 2000 家飛納電鏡客戶和 100 家相關(guān)產(chǎn)品客戶,,包括:清華大學(xué),、北京大學(xué)、復(fù)旦大學(xué),、上海交通大學(xué),、華南理工大學(xué)和中科院系統(tǒng)等高校科研單位,;巴斯夫,、寧德時(shí)代、微軟,、默克和出入境檢驗(yàn)局等企事業(yè)單位,。

2017 年開始,復(fù)納科技陸續(xù)與 7 家行業(yè)品牌建立了長期合作,,致力于為中國高校,、研究所、企業(yè)和政府用戶提供先進(jìn)可靠,、高效智能的科學(xué)分析儀器,、優(yōu)質(zhì)專業(yè)的服務(wù)和基于核心技術(shù)的解決方案。目前已引進(jìn)先進(jìn)的:DENSsolutions TEM原位樣品桿,,飛納臺(tái)式掃描電鏡,,NEOSCAN臺(tái)式高分辨顯微 CT,F(xiàn)orgeNano原子層沉積,、 Technoorg Linda SEM/TEM樣品制備和VSParticle 納米氣溶膠沉積等設(shè)備,。

十年以來,,復(fù)納科技賦能中國科研創(chuàng)新,、工業(yè)升級,人工智能檢測的使命也越來越清晰,。

 

 

 

 

臺(tái)式掃描電鏡,,SEM / TEM 樣品制備,ALD 原子層沉積,,TEM 原位樣品桿,,X 射線顯微 CT

應(yīng)用領(lǐng)域 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,冶金,制藥

Phenom Pharos 臺(tái)式場發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統(tǒng)較難觀測的樣品中也表現(xiàn)優(yōu)異。直觀的用戶界面有助于將高分辨率圖像呈現(xiàn)給用戶,, FEG 場發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內(nèi)都提供了高分辨率,。


Phenom Pharos-STEM 飛納臺(tái)式掃描透射電鏡配備了 STEM 樣品杯,從另一個(gè)維度提高了其成像能力和應(yīng)用的多樣性。


新品發(fā)布.png


作為臺(tái)式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡,,在較低的加速電壓下,,減少了電子束對樣品的損傷,顯著提高了圖像的襯度,。在臺(tái)式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像,、DF 像、HAADF 像,,且支持用戶自定義成像,。Pharos STEM 樣品杯為材料領(lǐng)域的研究提供了高效、全面的表征方式,。


STEM.png

BF 像:主要是樣品正下方同軸的探測器接收透射電子和部分散射電子,。影響明場像襯度(Contrast)的主要因素是樣品的厚度和成分。樣品越厚,,原子序數(shù)(Z)越大,,穿透樣品的電子越少,圖像就越暗,,因此 BF 像對輕元素(Z 較?。┍容^敏感。

DF 像:主要是樣品下方非同軸位置的探測器接收散射電子信號(hào),。

HAADF 像:主要是接收高角度的非相干散射電子信號(hào),。原子序數(shù)(Z)越大,散射角也越大,,原子核對入射電子的散射作用越強(qiáng),,圖像上更亮。因此又被稱為 Z 襯度像,。

三種成像模式各有特點(diǎn),,具有不同的成像優(yōu)勢,可以根據(jù)樣品情況搭配使用,,成像結(jié)果進(jìn)行互相驗(yàn)證,。


煙草花葉病毒.png

煙草花葉病毒的BSE 像、BF 像,、 DF 像和 HAADF 像


對比掃描電鏡的背散射電子圖像(BSE),,桿狀的煙草花葉病毒在 BF 模式下更加直觀。BF 模式更適合觀察輕元素(Z 較?。?,輕元素散射作用較弱,因此在 HAADF 模式下較難清晰觀測細(xì)節(jié),。


而桿狀煙草花葉病毒周圍較厚的脂質(zhì)球,,電子較難穿透,,BF 像上相對較暗。在 DF 模式下,,密度較大的脂質(zhì)球表現(xiàn)出較強(qiáng)的衍射,,因此在 DF 像上相對較亮。

Phenom Pharos-STEM 飛納臺(tái)式掃描透射電鏡規(guī)格參數(shù):


  • 系統(tǒng)兼容:Phenom Pharos G2 臺(tái)式場發(fā)射掃描電鏡

  • 樣品兼容:? 3mm TEM 載網(wǎng)(夾具固定)

  • 成像時(shí)間:< 40 s*

  • 成像模式:BF,、DF,、HAADF、 自定義**

  • 真空度:0.1, 10 & 60 Pa

  • 分辨率:優(yōu)于 1 nm


* 加載樣品到呈現(xiàn)圖像的時(shí)間
** STEM 具有 11 分割探測器,,用戶可以對其進(jìn)行自定義選擇




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