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Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2025/3/21 10:03:19
  • 訪問次數(shù) 1286

聯(lián)系方式:張怡玲查看聯(lián)系方式

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!


FEI公司,,2016年被賽默飛世爾科技收購,,成為賽默飛材料與結構分析(MSD) 電鏡事業(yè)部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創(chuàng)新者和供應商,。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結合先進的軟件套件,,運用廣泛的樣本類型,,通過將高分辨率成像與物理、元素,、化學和電學分析相結合,,使客戶的問題變成有效可用的數(shù)據(jù)。

掃描電子顯微鏡,,雙束電鏡,,透射電子顯微鏡,,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,,三維可視化軟件

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應用領域 環(huán)保,化工

Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡材料表征

先進的材料表征實驗室需要使用新技術,,且將分析儀器(包括 SEM掃描電鏡)的性能發(fā)揮到頂。這些實驗室中絕大多數(shù)都是多用戶使用,,且不同用戶的經(jīng)驗水平不盡相同,,同時,掃描電鏡的上機時間非常寶貴,,因此必須避免在維護,、對中、培訓或圖像優(yōu)化上花費過多時間,。

全新的 Thermo Scientific Apreo 2 SEM 可進行高分辨率成像,,并且可以擴展至材料的元素分析。憑借實時元素成像功能,,即 Thermo Scientific ColorSEM 技術,,可以通過最直觀的界面實時獲取元素組分信息。ColorSEM 技術消除了與典型 EDS聯(lián)用的所有復雜操作,,為您提供快捷和易用性,。

憑借 Thermo Scientific SmartAlign 技術(軟件自動光學對中),Apreo 2 SEM 對用戶和實驗室管理人員的要求非常低,。此外,,Apreo 2 SEM 采用 Thermo Scientific FLASH 技術,可實現(xiàn)自動電子束對中,、消像散和聚焦等操作,,這項技術的推出意味著即使是掃描電鏡的新手用戶也可以輕松獲得 Apreo 2 SEM 的性能。此外,,Apreo 2 SEM 是一款在 10 mm 分析工作距離具備 1 納米分辨率的 SEM,。大的工作距離不再意味著犧牲成像效果,使用 Apreo 2 SEM,,任何人都能容易地獲得出色的結果,。


主要特點:


優(yōu)異的空間分辨率及襯度

高分辨率——對于大多數(shù)樣品都能達到納米或亞納米級別的空間分辨率。采用鏡筒內(nèi)同步成像,、信號過濾,、復合透鏡等技術,幫助提升性能,,達到最佳的分辨率,。


廣泛的樣品適用性

對于多種樣品類型都有樣品靈活性,包括絕緣體,、敏感材料,、磁性材料等等,。這樣的靈活性幫助用戶獲取感興趣樣品的更多的數(shù)據(jù)。


利用ColorSEM技術實時獲取定量能譜數(shù)據(jù)

只需指尖輕輕點擊就可以獲取元素信息,,實現(xiàn)實時定量面分布,,帶來體驗與易用性。


快速簡便的樣品裝載過程

標配的樣品臺可以一次性容納多個樣品,,抽真空過程控制到最短時間,,保證進樣過程不浪費時間,更加便利地裝載樣品,。同時配備自動插拔的壓差光闌(PLA)可以實現(xiàn)高真空與低真空模式之間在毋須開樣品倉的條件下一鍵切換,。


高度自動化

高度自動化技術包含F(xiàn)LASH技術(用于自動圖像微調(diào))、撤銷,、用戶教程、圖像傾斜與拼接,。


大工作距離成像

市場上在大工作距離(10mm)下仍然保持高空間分辨率(1nm)性能和優(yōu)異的圖像質(zhì)量的掃描電鏡,,即使對于新手用戶,也極易上手操作,。


Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡規(guī)格


Apreo 2 S

Apreo 2 C

分辨率

  • 30kV下0.7nm(STEM)

  • 15kV下0.5nm(樣品臺減速)

  • 1kV下0.9nm

  • 1kV下0.8nm(樣品臺減速)

  • 1kV下1.0nm(工作距離10mm,,樣品臺減速)

  • 500V下0.8nm(樣品臺減速)

  • 200V下1.2nm(樣品臺減速)

  • 30kV下0.7nm(STEM)

  • 15kV下0.9nm(樣品臺減速)

  • 1kV下1.2nm

  • 1kV下1.0nm(樣品臺減速)

  • 500V下1.2nm(樣品臺減速)

標配探測器

  • ETD、T1,、T2,、T3、IR-CCD,、Nav-Cam+

  • ETD,、T1、T2,、IR-CCD,、Nav-Cam+

PivotBeam

  • 選區(qū)電子通道襯度模式(也稱為"搖擺光束"模式)。

  • 不適用

選配探測器

  • DBS,、LVD,、DBS-GAD、STEM 3+,、RGB-CLD,、EDS、EBSD,、WDS,、拉曼光譜、EBIC 等

ColorSEM技術(選配)

  • 基于能譜儀(EDS)實時定量數(shù)據(jù)對掃描電鏡圖像進行著色,??商峁┑臄?shù)據(jù)包含點分析,、線掃描、面掃描,、譜圖結果及可靠的Noran定量結果

著陸能量范圍

  • 20 eV – 30 keV

樣品臺偏壓(樣品臺減速)

  • -4000V~+600V

低真空模式

  • 選配:樣品倉氣壓范圍10-500Pa

樣品臺

  • 五軸電動馬達臺,,XY軸行程范圍110x110mm2,傾斜范圍-15°~+90°,,最大樣品重量:5kg(不傾斜)

最大束流

  • 50 nA(選配 400 nA)

標準樣品臺

  • 一款多功能樣品臺,,可以容納18個標準釘臺(φ12mm),有三個預傾斜樁,截面樣品臺和兩個STEM載位

樣品倉

  • 340mm內(nèi)寬,,12個端口,,最多同時安裝三個EDS(兩個互為180°),EDS,、EBSD共面安裝并與樣品臺的傾轉軸正交





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