Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/8/28 13:21:29
- 訪問次數 929
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| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環(huán)保,化工 |
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡
利用亞納米分辨率和高材料對比度進行納米材料表征和分析
Verios 5 XHR SEM掃描電鏡的主要特點
SmartAlign 技術
使用 SmartAlign 技術時,，用戶無需對電子束鏡筒進行任何對中,，這不僅能最大限度地減少維護，還能提高電鏡生產率,。
創(chuàng)新的電子光學系統(tǒng)
包括 Thermo Scientific 獲得的 UC+（單色器）電子槍,、ConstantPower 透鏡和靜電掃描，可實現(xiàn)準確穩(wěn)定的成像,。
亞納米級分辨率
Elstar Schottky 電子源單色器（UC+）FESEM 技術和性能,，實現(xiàn)從 1 至 30 keV 的亞納米級分辨率。
一致的測量結果
Verios 掃描電鏡非常適合實驗室計量應用,，能夠在高放大倍數下校準經 NIST 認證的標準品,。
低劑量操作和最佳對比度選擇
結合了先進的高靈敏度、鏡筒內 & 透鏡下探測器和信號過濾功能 可實現(xiàn)低劑量操作和最佳襯度選擇,。
輕松訪問射束著陸能量
低至 20 eV 也可實現(xiàn)用于真正的表面表征的分辨率,。
無人照看的 SEM 運行
借助 AutoScript 4 軟件，可選配基于 Python 的應用程序編程界面 (API),。
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡規(guī)格
電子束分辨率 |
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標準檢測器 | ETD,、TLD、MD,、ICD,、射束電流測量、Nav-Cam+,、IR 攝像機 | |
可選檢測器 | 可選檢測器 | EDS,、EBSD、RGB 陰極發(fā)光,、拉曼,、WDS 等 | |
載物臺偏倚（光束減速、可選） | 標準配置包括高達 -4000 V | |
樣品清潔 | 標配配置包括集成式等離子清洗裝置 | |
樣品操縱 | Verios 5 UC
| Verios 5 HP
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腔室 | 379 mm 內徑,、21 個端口 | |
軟件選項 |
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大腔室
可從兩種高精確穩(wěn)定的壓電陶瓷驅動樣品臺中進行選擇,。
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