一,、產(chǎn)品概述：

聚焦離子束系統(tǒng)（FIB）是一種高精度的材料加工和分析工具,，利用聚焦的離子束對樣品進行雕刻、切割和表征,。FIB技術(shù)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造,、材料科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域，能夠?qū)崿F(xiàn)對微小結(jié)構(gòu)的精確操作和分析,。

二,、設(shè)備用途/原理：

·設(shè)備用途

FIB系統(tǒng)主要用于納米級材料的加工與表征，包括樣品的切割,、沉積,、刻蝕以及缺陷分析。它在半導(dǎo)體行業(yè)中用于制造和修復(fù)微電子器件,，也可用于材料的微觀結(jié)構(gòu)分析和三維成像,，幫助研究人員深入理解材料的特性和行為。

·工作原理

FIB的工作原理是通過加速的離子束（通常是銦離子）轟擊樣品表面,，導(dǎo)致材料的原子被擊出或沉積,。離子束的聚焦能力使其能夠精確控制加工區(qū)域的大小和深度。通過調(diào)節(jié)離子束的能量和曝光時間,，研究人員可以實現(xiàn)高精度的材料去除或添加,。同時，F(xiàn)IB系統(tǒng)通常配備有掃描電子顯微鏡（SEM）,，可以在加工過程中實時觀察樣品,，提供高分辨率的圖像和分析數(shù)據(jù)。此結(jié)合使得FIB成為一項強大的材料研究和加工工具,。