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OPTELICS AI 2 晶圓缺陷檢測(cè)儀
- 公司名稱 上海旭量光學(xué)技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) OPTELICS AI 2
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2023/5/2 12:11:39
- 訪問次數(shù) 498
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Lasertec已將OPTELICS AI 2商業(yè)化,這是一種新型共聚焦顯微鏡自動(dòng)檢查/檢查系統(tǒng),,集成了高速自動(dòng)缺陷檢查功能,、缺陷映射功能和高倍率形狀檢查功能。
特征
從自動(dòng)缺陷檢查到各種材料的半導(dǎo)體晶圓的高倍率檢查和形狀測(cè)量,,一個(gè)單元即可處理所有事務(wù),。活躍于從研發(fā)到量產(chǎn)的各個(gè)階段
高速檢測(cè):亞微米級(jí)靈敏度可在 15 分鐘內(nèi)完成 3 英寸晶圓的全面檢測(cè)
高倍率回顧:通過切換物鏡可以進(jìn)行高倍率 3D 形狀測(cè)量
通過深度學(xué)習(xí)實(shí)現(xiàn)高精度的圖像分類,??梢赃M(jìn)行圖案板檢查和特定缺陷類型的檢查
即使對(duì)于化合物半導(dǎo)體和薄膜等透明樣品,也可以在不受背反射影響的情況下進(jìn)行檢查,、高倍率檢查和形狀測(cè)量,。
由于 Lasertec 提供從硬件到軟件的完整系統(tǒng),因此可以根據(jù)客戶的要求定制和支持整個(gè)系統(tǒng),。
用法
各種材質(zhì)半導(dǎo)體晶圓的高速自動(dòng)缺陷檢測(cè)
缺陷審查
缺陷形狀測(cè)量
每個(gè)制造過程中的缺陷跟蹤
規(guī)格
檢查時(shí)間(3"晶圓) | 15分鐘 |
---|---|
檢查對(duì)象 | 各種晶圓(Si,、SiC、GaN,、InP,、AlN、玻璃等),、玻璃基板,、薄膜等 |
高速自動(dòng)缺陷檢測(cè) | 共焦光學(xué)與微分干涉干涉 |
高倍復(fù)習(xí) | 共焦光學(xué)系統(tǒng) |
3D形狀測(cè)量 |