普賽斯1003C多通道數(shù)字源表特點(diǎn)：

同時(shí)精確提供和測(cè)量電壓和/或電流,；

同步測(cè)量,，減少測(cè)試時(shí)間

提供和測(cè)量非常廣的電流和電壓；

電壓可達(dá)300mV-300V,電流達(dá)100nA-1A

支持運(yùn)行用戶腳本程序,，無(wú)需電腦控制,，提高生產(chǎn)測(cè)試速度；

序列測(cè)試,，簡(jiǎn)化操作,，降低成本

采用用戶熟悉的圖形界面,，不管用戶經(jīng)驗(yàn)是否豐富，使用起來(lái)都非常簡(jiǎn)便,；

觸屏操作

與傳統(tǒng)電源比：

電源過(guò)零需要改變線連接方式,；

增加需反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)械開(kāi)關(guān)，降低了設(shè)備可靠性

電壓電流限制精度有限,；

電壓1%,，電流10mA

與電源結(jié)合萬(wàn)用表組合比：

萬(wàn)用表電源組合需要編程實(shí)現(xiàn)設(shè)備控制及同步；

復(fù)雜連線,、編程開(kāi)發(fā)

電源限壓限流性能差

限壓限流精度低,，瞬態(tài)特性也無(wú)法保證

普賽斯1003C多通道數(shù)字源表應(yīng)用：

數(shù)字源表應(yīng)用之光伏組件PID測(cè)試

PID形成原因

外部原因

PID的真正原因到目前為止沒(méi)有明確的定論，但最容易在潮濕的環(huán)境下發(fā)生,，并且活躍程度與潮濕程度相關(guān),；同時(shí)組件表面被導(dǎo)電性、酸性,、堿性以及帶有離子的物體的污染程度,，也與PID現(xiàn)象的發(fā)生有關(guān)。據(jù)推測(cè),，來(lái)自于鈉鈣玻璃的金屬離子是形成上述具有PID效應(yīng)的漏電流的主要載流介質(zhì),。

內(nèi)部原因

系統(tǒng)方面

逆變器接地方式和組件在陣列中的位置，決定了電池片和組件受到正偏壓或者負(fù)偏壓,。電站實(shí)際運(yùn)行情況和研究結(jié)果表明：如果整列中間一塊組件和逆變器負(fù)極輸出端之間的所有組件處于負(fù)偏壓下,，則越靠近輸出端組件的PID現(xiàn)象越明顯。而在中間一塊組件和逆變器正極輸出端中間的所有組件處于正偏壓下,，PID現(xiàn)象不明顯,。

組件方面

環(huán)境條件，如濕度等的影響導(dǎo)致了漏電流的產(chǎn)生,。

電池方面

電池片由于參雜不均勻?qū)е路綁K電阻不均勻,；優(yōu)化電池效率而采用的增加方塊電阻會(huì)使電池片更容易衰減，導(dǎo)致容易發(fā)生PID效應(yīng),。

PID測(cè)試儀器組成

測(cè)試所需主要儀器為：

步入式環(huán)境測(cè)試箱,；

絕緣耐壓測(cè)試儀；

接地連續(xù)性測(cè)試儀,；

PID測(cè)試直流電壓源（數(shù)字源表）,；

HALM太陽(yáng)模擬器（AAA+級(jí)）；

EL測(cè)試儀等,。

PID測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)

PID 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)引自 IEC 62804 （Draft）

根據(jù)IEC61730-2 MST  01進(jìn)行外觀檢測(cè),；

根據(jù)IEC61215第二版進(jìn)行最大功率測(cè)試

根據(jù)IEC61215第二版條目10.15進(jìn)行濕漏電流測(cè)試；

如果組件有裸露的導(dǎo)電部位,，則要根據(jù)IEC61730-2 MST13進(jìn)行接地連續(xù)性測(cè)試,。

PID測(cè)試連線圖以及測(cè)試電源要求

PID測(cè)試連線圖

多通道高密度數(shù)字源表訂貨信息

如客戶S次使用我司插卡式源表系列產(chǎn)品,，請(qǐng)先購(gòu)買機(jī)箱SMU CS控制機(jī)箱，購(gòu)買機(jī)箱時(shí)請(qǐng)標(biāo)注需要使用幾通道,，方便我司將不用通道暫時(shí)封閉,，保證外觀美觀性。

主機(jī)：

子卡：

 

普賽斯插卡式設(shè)備具有通道密度高,、同步觸發(fā)功能強(qiáng),、多設(shè)備組合效率高等特點(diǎn)。普賽斯插卡式主機(jī)采用自定義框架,，背板總線帶寬高達(dá)3Gbps,，支持16路觸發(fā)總線,，滿足多卡設(shè)備高速率通信需求,。普賽斯研發(fā)了豐富的可供用戶選配的子卡，方便用戶根據(jù)功能性能需求靈活配置不同的子卡,。主機(jī)對(duì)外通信支持串口,、以太網(wǎng)及GPIB。
    為滿足客戶對(duì)子卡數(shù)的不同需求,，推出了1003CS和1010CS兩款主機(jī),，1003CS擁有Z高容納3子卡的插槽，1010CS擁有Z高容納10子卡的插槽,。普賽斯子卡均能放入這兩種主機(jī),。
    CS系列源表子卡是普賽斯歷時(shí)多年打造的高精度、大動(dòng)態(tài),、插卡式源表子卡,，匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能,，Z大輸出電壓達(dá)300V,，Z大輸出電流達(dá)1A，支持四象限工作,，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中,。CS系列源表適用于各行各業(yè)使用者，特別適合現(xiàn)代半導(dǎo)體,、納米器件和材料,、有機(jī)半導(dǎo)體、印刷電子技術(shù)以及其他小尺寸,、低功率器件特性分析,。
    目前已開(kāi)發(fā)，CS100,、CS200,、CS300及CS400子卡,，其中CS100、CS200,、CS300為單卡單通道,，CS400為單卡四通道，卡內(nèi)4通道共地,。使用10插卡主機(jī)時(shí),，用戶可實(shí)現(xiàn)高達(dá)40通道的配置，用戶針對(duì)實(shí)際情況可以選擇不同的子卡實(shí)現(xiàn)*性價(jià)比搭配,。

高密度插卡式源表應(yīng)用
納米材料特性測(cè)試,，石墨烯、納米線等
有機(jī)材料特性測(cè)試,，電子墨水,、印刷電子技術(shù)等
能量與效率特性測(cè)試，LED/AMOLED,、太陽(yáng)能電池,、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等
分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試,，電阻,、二極管、發(fā)光二極管,、齊納二極管,、PIN二極管、BJT三極管,、MOSFET,、SIC等
傳感器特性測(cè)試，電阻率,、霍爾效應(yīng)等

高密度插卡式源表特點(diǎn)
源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.1%,，分辨率5數(shù)位
四象限工作（源和肼），源及測(cè)量范圍：電流100pA~1A,，電壓300uV~300V
單主機(jī)可支持10子卡,，Z高實(shí)現(xiàn)40通道
靈活的通道觸發(fā)總線，多子卡高效協(xié)同工作
豐富的掃描模式,，支持線性掃描,、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
支持多種通信接口，RS-232,、GPIB及以太網(wǎng)

多通道高密度數(shù)字源表技術(shù)指標(biāo)
1003CS 主機(jī)：
插槽數(shù)：Z多支持3通道,；
通信口：RS-232、GPIB,、以太網(wǎng),；
電源：AC 100~240V 50/60Hz,，Z大功率500W；
工作環(huán)境：25±10℃,；
尺寸：178mm高 × 482mm寬 × 552mm長(zhǎng),；
質(zhì)保期：1年；

1010CS 主機(jī)：
插槽數(shù)：Z多支持10通道,；
通信口：RS-232,、GPIB、以太網(wǎng),；
電源：AC 100~240V 50/60Hz,，Z大功率500W；
工作環(huán)境：25±10℃,；
尺寸：354mm高 × 482mm寬 × 552mm長(zhǎng),；
質(zhì)保期：1年；