X射線衍射儀（D8A25）樣品結(jié)構(gòu)分析測試可在大氣中無損分析樣品,，進行物質(zhì)的定性分析,、晶格常數(shù)確定和應力測定等,。并且，可通過峰面積計算進行定量分析,。

X射線衍射儀（D8A25）樣品結(jié)構(gòu)分析測試可通過半高寬,、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精細Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計算結(jié)晶化度,、晶粒大小

3. 確定晶系,、晶粒大小與畸變

4. Rietveld結(jié)構(gòu)分析

5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相,、多層膜厚度,、表面粗糙度，電荷密度

6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)

7. 小角散射與納米材料粒徑分布

8. 微區(qū)樣品的分析

配置：1.九位進樣,；2. 電化學原位池

功能：物相分析,；電化學原位分析

參數(shù)：

1、 輸出功率：3Kw

2,、 Cu靶,，陶瓷X光管，2.2Kw

3,、 測量范圍-100o≤2θ≤168 o 小角最小0.3度

4,、 可讀最小步長：0.0001 o，角度重現(xiàn)性：0.0001 o

5,、 定位速度：1200 o/min

6,、 子探測器個數(shù)：192個

7、 整個探測器總背景：＜0.1 cps

8,、 能量分辨率：＜9%