產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
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易捷測試,致力于為用戶提供精密的半導(dǎo)體晶圓級在片測試探針臺系統(tǒng)和射頻微波器件測量系統(tǒng),,微組裝封裝工藝檢測系統(tǒng)以,、失效分析系統(tǒng)以及材料測試等系統(tǒng)集成方案。特別是我們提供的探針臺在片系統(tǒng),,已被國內(nèi)客戶廣泛地應(yīng)用于I-V/C-V測試,,脈沖I-V測試,RF/mmW測試,,高壓、大電流測試,,MEMS,、芯片光耦合,光電器件測量、射頻校準(zhǔn),、晶圓級失效分析,、霍爾測試、CP測試等解決方案中,。
適用于多種晶圓量測應(yīng)用
• 模塊量測 - DC-IV / DC-CV / Pulse-IV
• 射頻和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上
• 失效分析 - 探針卡 / 節(jié)間探測
• 可靠性測試 - 熱/ 冷 / 長時間測試
• 高功率測試 - 至高 10 kV / 600 A
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環(huán)境
• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設(shè)計的精密量測環(huán)境
• 支援飛安級低漏電值量測
• 溫度量測范圍 -60 °C 至 300 °C