化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM）>Ntegra Prima KFM NT-MDT 開(kāi)爾文探針顯微鏡
Ntegra Prima KFM NT-MDT 開(kāi)爾文探針顯微鏡
- 公司名稱(chēng) 八帆儀器設(shè)備（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) Ntegra Prima KFM
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2021/4/12 13:38:53
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原子力顯微鏡,，原子力拉曼,，有機(jī)合成質(zhì)譜儀，制備色譜,，納米紅外光譜儀,，掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡，電鏡下原子力,，微米級(jí)3D打印機(jī),，
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類(lèi) | 其它 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
NT-MDT 開(kāi)爾文探針顯微鏡技術(shù)參數(shù)：
在大氣環(huán)境下：掃描隧道顯微鏡/ 原子力顯微鏡(接觸 +半接觸+非接觸)/橫向力顯微鏡/相位成像/力調(diào)制/力譜線(xiàn)/粘附力成像/磁力顯微鏡/靜電力顯 微鏡/掃描電容顯微鏡/開(kāi)爾文探針顯微鏡/擴(kuò)展電阻成像/納米壓痕/刻蝕: 原子力顯微鏡(電壓+力)/壓電力模式/超聲原子力/外加磁場(chǎng)/溫度控制/氣氛控制等功能。
在液體環(huán)境下：原子力顯微鏡(接觸+半接觸+非接觸)/橫向力顯微鏡/相位成像/力調(diào)制/粘附力成像/力譜/刻蝕:
測(cè)量頭部：AFM和SPM可選配液相模式和納米壓痕測(cè)量頭
掃描方式：樣品掃描,、針尖掃描,、雙掃描
大樣品尺寸：樣品掃描：直徑40mm，厚度15mm,。針尖掃描：樣品無(wú)限制
XY樣品定位裝置：移動(dòng)范圍5×5um,，精度5um
掃描范圍：90×90×9um（帶傳感器/閉環(huán)控制），可選配低電壓模式實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨
XY方向非線(xiàn)性度：≤0.5%（帶傳感器/閉環(huán)控制）
Z方向噪音水平（帶寬1000Hz時(shí)的RMS值）：閉環(huán)控制掃描器（典型值0.04nm,，大0.06nm）
光學(xué)顯微系統(tǒng)：配備高數(shù)值孔徑物鏡后,，分辨率可由3um提升至1um
樣品溫度控制：室溫~300℃
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