Park FX40 納米科學研發(fā)界的新星 全自動原子力顯微鏡

儀器簡介

Park FX40全自動原子力顯微鏡（AFM）是一款專注于納米科學研究的精密設備,，通過智能自動化與高精度技術,，為材料科學、半導體,、生命科學等領域的研究者提供高效支持。作為Park Systems的核心產(chǎn)品之一,，F(xiàn)X40結合先進的硬件設計與智能化軟件系統(tǒng),，簡化了從探針更換,、激光校準到高清成像的全流程操作，從選探針到放置再到全自動掃描樣品,，只需輕松一鍵,。

儀器特點

1. 全流程自動化操作

l                      自動探針管理：配備8針盒磁控換針系統(tǒng)，支持探針類型自動識別與更換,，減少人為操作干擾,；

l                      智能激光校準：該功能將激光精確定位到懸臂梁的合適位置并進一步分別優(yōu)化PSPD的垂直及橫向位置。您只需簡單點擊,，移動下X,Y和Z軸便可得到不失真的高清掃描圖,。

l                      簡化操作流程：Park SmartScan軟件支持預設參數(shù)，自動完成掃描區(qū)域定位與高清成像,。

2. 高精度掃描技術

l                      平直正交XY軸掃描：采用串擾消除技術,，減少掃描器弓形彎曲，支持樣品表面平直掃描,；

l                      獨立Z軸掃描器設計：結合低噪聲探測器（0.02 nm噪聲帶寬）,，實現(xiàn)納米級形貌測量；

l                      非接觸掃描模式：True Non-Contact™模式避免針尖與樣品接觸,，適用于軟性樣品分析,。

3. 多功能與拓展性

l                      多模式兼容：支持接觸模式、輕敲模式,、磁力顯微鏡（MFM）,、導電原子力顯微鏡（C-AFM）等模式，滿足電學,、力學等分析需求,；

l                      環(huán)境監(jiān)測功能：內(nèi)置傳感器實時監(jiān)測溫度、濕度及振動,，輔助優(yōu)化實驗條件,；

4. 用戶友好設計

l                      雙攝像頭系統(tǒng)：樣品與探針攝像頭協(xié)同定位，提升操作便捷性,；

l                      直觀軟件界面：Park SmartScanTM提供三步操作流程（預設,、定位、成像）,，降低使用門檻,；

儀器應用

Park FX40憑借其技術特性，可服務于多個科研與工業(yè)領域：

1.       材料科學

2.       半導體與電子器件

3.       生命科學

4.       能源與催化

選擇Park FX40的優(yōu)勢,？

l                      操作便捷：簡化傳統(tǒng)AFM的多步流程,，提升實驗效率；

l                      數(shù)據(jù)可靠性：低噪聲探測與平直掃描技術支持高精度測量,；

l                      設計耐用性：非接觸模式可減少探針損耗,；

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