光學厚度測量儀是一種利用光學原理對物體厚度進行測量的設備,。它可以非接觸地,、精確地測量各種透明、半透明和不透明材料的厚度,，常見于光學,、電子,、玻璃、塑料,、薄膜、涂層等行業(yè),。

光學厚度測量儀的主要特點包括：

1、非接觸測量：使用光學原理進行測量,，不需要接觸被測物體,，避免了可能對被測物體造成的損傷,。

2、測量精度高：由于采用了先進的光學技術和測量算法,，能夠達到高的測量精度。

3,、測量范圍廣：可以測量從納米級到毫米級的各種厚度。

4,、操作簡便：大部分光學厚度測量儀都配備了易于操作的用戶界面,，方便用戶設定參數(shù)和進行測量。

5,、適用材料廣泛：可以測量各種透明,、半透明和不透明的材料,，包括光纖、玻璃,、塑料、薄膜,、涂層等,。

Thetametrisis自動化光學膜厚儀 FR-Scanner光學厚度測量儀是一種緊湊的臺式工具,，適用于自動測繪晶圓片上的涂層厚度,。FR-Scanner 可以快 速和準確測量薄膜特性:厚度,，折射率，均勻性,，顏色等。真空吸盤可應用于任何直徑或其他形狀的樣片,。

應用：

1、半導體生產制造：(光刻膠, 電介質,光子多層結構,， poly-Si, Si, DLC, )

2、光伏產業(yè)

3,、液晶顯示

4、光學薄膜

5,、聚合物

6、微機電系統(tǒng)和微光機電系統(tǒng)

7,、基底:透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明

Thetametrisis膜厚儀*的光學模塊可容納所有光學部件:分光計、復合光源(壽命10000小時),、高精度反射探頭,。因此,，在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能,。

Thetametrisis膜厚儀 FR-Scanner 通過高速旋轉平臺和光學探頭直線移動掃描晶圓片(極坐標掃描)。通過這種方法,，可以在很短的時間內記錄具有高重復性的反射率數(shù)據(jù)，這使得FR-Scanner 成為測繪晶圓涂層或其他基片涂層的理想工具,。

測量 8” 樣片 625 點數(shù)據(jù) < 60 秒

Thetametrisis光學厚度測量儀特征：

1、單點分析(不需要預估值）

2,、動態(tài)測量

3,、包括光學參數(shù)(n和k，顏色) o 為演示保存視頻

4,、600 多種的預存材料

5、離線分析

6,、免費軟件更新

FR-Scanner自動化超高速薄膜厚度測量儀性能參數(shù)：

測量原理：

白光反射光譜(WLRS)是測量從單層薄膜或多層堆疊結構的一個波長范圍內光的反射量，入射光垂直于樣品表面,，由于界面干涉產生的反射光譜被用來計算確定(透明或部分透明或*反射基板上)的薄膜的厚度,、光學常數(shù)(n和k)等,。

1,、樣片平臺可容納任意形狀的樣品。450mm平臺也可根據(jù)要求提供,。真正的X-Y掃描也可能通過定制配置,。

2、硅基板上的單層SiO2薄膜的厚度值,。對于其他薄膜/基質,，這些值可能略有不同。

3,、15天平均值的標準差平均值,。樣品:硅晶片上1微米的二氧化硅

4,、2*超過15天的日平均值的標準偏差。樣品:硅晶片上1微米的二氧化硅

5,、測量結果與校準的光譜橢偏儀比較

6,、根據(jù)材料

7、測量以8 "晶圓為基準,。如有特殊要求，掃描速度可超過1000measurement /min

如果您想要了解更多關于Thetametrisis膜厚儀的產品信息,，請聯(lián)系我們岱美儀器。

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