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FR-pRo:晶圓涂層測厚、圓晶薄膜厚度測量儀

參考價 15
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準

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岱美有限公司(下面簡稱岱美)成立于1989年,,是一間擁有多年經(jīng)驗的性高科技設(shè)備分銷商,,主要為半導體、MEMs,、光通訊,、數(shù)據(jù)存儲、高校及研發(fā)中心提供各類測量設(shè)備,、工序設(shè)備以及相應(yīng)的技術(shù)支持,,并與一些重要的客戶建立了*合作的關(guān)系。

自1989年創(chuàng)立至今,,岱美的產(chǎn)品以及各類服務(wù),、解決方案廣泛地運用于中國大陸、香港,、中國臺灣,、新加坡、泰國,、馬來西亞,、菲律賓等地區(qū)。
主要產(chǎn)品包括有:EVG晶圓鍵合設(shè)備,、EVG納米壓印設(shè)備,、EVG紫外光刻機、EVG涂膠顯影機,、EVG硅片清洗機,、EVG超薄晶圓處理設(shè)備、壓力計,、流量計,、等離子電源、非接觸式光學三坐標測量儀,、薄膜厚度檢測儀,、電容式位移傳感器、振動樣品磁強計 (VSM),、粗糙度檢測儀,、電鏡 (SEM),、透鏡 (TEM)、原子力顯微鏡 (AFM),、防振臺系統(tǒng),、三維原子探針材料分析儀 (Atom Probe)、激光干涉儀,、平面/球面大口徑動態(tài)激光干涉儀、氦質(zhì)譜檢漏儀,、紫外線固化儀,、碳納米管生長設(shè)備等。
岱美中國擁有八十多名訓練有素的工程師,,能夠為各地區(qū)用戶作出快捷,、可靠的技術(shù)支持和維修服務(wù);為確保他們的專業(yè)知識得以更新及并適應(yīng)新的要求,,岱美定期委派工程師前往海外接受專項技術(shù)訓練,,務(wù)求為顧客提供更高質(zhì)素的售后服務(wù)及技術(shù)支持。
總部位于中國香港的岱美分別在新加坡,、泰國,、中國臺灣、馬來西亞,、菲律賓及中國大陸(上海,、東莞及北京)設(shè)立了分公司及辦事處,以帶給客戶更快捷更的銷售及維修服務(wù),。
我們真誠希望和業(yè)界的用戶互相合作,,共同發(fā)展!,!
     

膜厚測量儀,、隔震臺、磁強計

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 1-1千
應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,電氣

                        廠家正式*代理商:岱美有限公司

FR-pRo: 按需可靈活搭建的薄膜特性表征工具

晶圓涂層測厚,、圓晶薄膜厚度測量儀

一,、產(chǎn)品簡介:

     FR-pRo: 按需可靈活搭建的薄膜特性表征工具 是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設(shè)備,用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層.FR-pRo 是為客戶量身定制的,,并廣泛應(yīng)用于各種不同的應(yīng)用 ,。               FR-pRo:晶圓涂層測厚、圓晶薄膜厚度測量儀薄膜特性表征工具/光學參數(shù)測量/反射率測量/厚度測量/透射率測量,,應(yīng)用于半導體材料厚度測量,、非金屬材料厚度測量、光刻膠,、光學掩膜,、介電薄膜、晶圓表面涂層厚度測量、圓晶薄膜厚度測量,、硅片表面涂層材料厚度測量,,研究透光性材料的工具。

      FR-pRo 可由用戶按需選擇裝配模塊,,核心部件包括光源,,光譜儀(適用于 200nm-2500nm 內(nèi)的任何光譜系統(tǒng))和控制單元,電子通訊模塊
此外,,還有各種各種配件,,比如:
? 用于測量吸收率/透射率和化學濃度的薄膜/試管架,
? 用于表征涂層特性的薄膜厚度工具,
? 用于控制溫度或液體環(huán)境下測量的加熱裝置或液體試劑盒,

? 漫反射和全反射積分球

 

通過不同模塊組合,終的配置可以滿足任
何終端用戶的需求
 


 

二,、應(yīng)用領(lǐng)域

o   彎曲基材(襯底)上的/軟涂層

o   聚合物涂層,、粘合劑等

o   生物醫(yī)學( parylene—— 派瑞林,氣泡壁厚,等等 )

O    半導體生產(chǎn)制造:(光刻膠, 電介質(zhì),光子多層結(jié)構(gòu), poly-Si,Si, DLC )
o     光伏產(chǎn)業(yè)
o     液晶顯示
o     光學薄膜
o     聚合物
o     微機電系統(tǒng)和微光機電系統(tǒng)
o     基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明

 

 

三,、FR-pRo:晶圓涂層測厚,、圓晶薄膜厚度測量儀 按需可靈活搭建的薄膜特性表征工具產(chǎn)品特點
o 單點分析(無需預設(shè)值)
o 動態(tài)快速測量
o 包括光學參數(shù)(n和k,顏色)
o 為演示保存視頻
o 600 多種的預存材料
o 離線分析
o 免費軟件更新 

 

 

四,、技術(shù)參數(shù)


五,、
FR-pRo: 按需可靈活搭建的薄膜特性表征工具工作原理

  白光反射光譜(WLRS)測量方法是在一定波長范圍內(nèi),分析垂直于樣品表面的入射光和從單層或多層堆疊薄膜反射的反射光譜的分析方法,。

由界面&表面產(chǎn)生的反射光譜被用于確定獨立和附著于基底(在透明或部分/全反射基底上)的堆疊膜層的厚度,、光學常數(shù)(n&k)等。


 

 

岱美有限公司成立于1989年,,是數(shù)據(jù)存儲,,半導體,光學,,光伏和航空航天行業(yè)制造商和創(chuàng)新研發(fā)機構(gòu)的設(shè)備分銷商,。

  在21世紀初期,岱美已從我們在香港的總部擴展到亞洲,,以滿足客戶的多樣化需求,。在當今化的市場中,我們的客戶包括連接東南亞各國的綜合供應(yīng)鏈,,我們的專業(yè)人員隨時準備與他們會面,。



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