zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng),，晶圓在線測厚系統(tǒng)，線掃描膜厚儀,，顯微分光膜厚儀,，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀,，相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備,，非接觸光學(xué)膜厚儀，小角激光散射儀,，多檢體納米粒徑量測系統(tǒng),，量子效率測量系統(tǒng)
| 按探測器 | CCD | 光譜范圍 | 紫外 |
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| 價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,印刷包裝,電氣 |
MCPD系列透過率測試儀
（MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700）
提供豐富選配套件以及客制化光纖，可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設(shè)計(jì),，是一套可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的即時測量系統(tǒng)
膜厚測量
半導(dǎo)體晶圓膜（氧化膜,、氮化膜,、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜（Coating膜,、蒸鍍膜,、接著劑、亞克力樹脂,、光碟片膜層,、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP,、PE,、PC、Nylon）,、機(jī)能性薄膜,、包裝膜
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膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導(dǎo)體晶圓膜（氧化膜、氮化膜,、光阻膜）光阻剝離液厚度,、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜,、接著劑,、亞克力樹脂、光碟片膜層,、薄膜磁頭）樹脂膜（PET,、PP、PE,、PC,、Nylon）、機(jī)能性薄膜,、包裝膜,。
影印機(jī)感光鼓膜厚度量測
半導(dǎo)體晶圓膜（氧化膜、氮化膜,、光阻膜）光阻剝離液厚度,、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜,、接著劑,、亞克力樹脂、光碟片膜層,、薄膜磁頭）樹脂膜（PET,、PP、PE,、PC,、Nylon）,、機(jī)能能性薄膜、包裝膜
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LB膜測量
蒸餾膜測量
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多點(diǎn)膜厚測量
半導(dǎo)體晶圓膜（氧化膜,、氮化膜,、光阻膜）
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜（Coating膜,、蒸鍍膜、接著劑,、亞克力樹脂,、光碟片膜層、薄膜磁頭）
樹脂膜（PET,、PP,、PE、PC,、Nylon）,、機(jī)能能性薄膜、包裝膜
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