一款來自牛津的膜厚儀X-Strata920

金鎳測厚儀x-stara920特點：
可測元素：鈦Ti22---鈾U92間各元素；
可測鍍層：5層鍍層(含基材層),，15種元素共存校正,；
測量時間約10秒，快速得出測量結(jié)果,；
測量結(jié)果***到微英寸,；
測量結(jié)果報告可包含：數(shù)據(jù)、被測樣品點圖片,、各種統(tǒng)計報表,、客戶信息；
提供貴重金屬分析和金純度檢查(即Au karat評價),；
提供NIST認證的標準片,；
享有的服務(wù)與支持。

金鎳測厚儀x-stara920測厚范圍：
取決于具體的應(yīng)用,。
 
金鎳測厚儀x-stara920測量精度：
膜厚≤20µin(0.5um)時,，測量誤差值為：一層±1µin，第二層±2µin,，第二層±3µin
膜厚＞20µin(0.5um)時,，測量誤差值為：一層±5%，第二層±10%,，第二層±15%

一款來自牛津的膜厚儀X-Strata920?可檢測多層鍍層元素的厚度,，同時也可以分析鍍層金屬元素的成分。

日立&牛津 的測量和分析儀器廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域,，可滿足客戶對高精度,、高可靠性測量和操作簡便的需求。我們通過專業(yè)的咨詢服務(wù)為客戶提供佳的解決方案,，即從接觸開始,，不斷溝通，直至達到定制化服務(wù)的理念,。這些緊密合作與我們的創(chuàng)新驅(qū)動力不斷結(jié)合,，為形成新的測量解決方案奠定了堅實的基礎(chǔ)。