菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心測量技術(shù)
菲希爾代理測量原理
運用 X 射線熒光光譜法,,實現(xiàn)對鍍層厚度的精準測量,。設(shè)備通過 X 射線源發(fā)射初級射線激發(fā)樣品,使元素原子內(nèi)層電子躍遷產(chǎn)生特征 X 射線熒光,。探測器精準捕獲熒光的能量與強度數(shù)據(jù),,從而實現(xiàn)對元素成分、鍍層厚度的定量分析,。
測量方式
無損檢測,,具備自動聚焦功能,,保障樣品完整性與測量準確性,。在測量過程中不會對樣品造成任何物理損傷,,可對樣品進行多次重復測量 。
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230元素測量范圍
涵蓋 Cl(17) - U(92),,最多可同時測量 24 種元素,、23 層鍍層。能夠滿足復雜多層膜體系以及多種元素成分分析的檢測需求,,無論是常見金屬元素還是一些稀有元素的鍍層檢測都能勝任,。
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