Nanovea非接觸3D光學(xué)輪廓儀PS50是一款科研版的三維表面形貌測量設(shè)備，采用的白光共聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,，具有測量精度高,，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點,，該儀器性價比高,，可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。
Nanovea非接觸3D光學(xué)輪廓儀PS50特性
采用白光共聚焦色差技術(shù),，可獲得納米級的分辨率
測量具有非破壞性,，測量速度快，精確度高
測量范圍廣,，可測透明,、金屬材料，半透明,、高漫反射,，低反射率、拋 光,、粗糙材料(金屬,、玻璃、木頭,、合成材料,、光學(xué)材料、塑料,、涂層,、涂料、漆,、紙,、皮膚、頭發(fā),、牙齒…),；
尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面
不受環(huán)境光的影響
測量簡單，樣品無需特殊處理
Z方向,測量范圍大：為27mm
主要技術(shù)參數(shù)
掃描范圍：50×50（mm）
掃描步長：0.1μm
掃描速度：20mm/s
Z方向測量范圍：27mm
Z方向測量分辨率：2nm
產(chǎn)品應(yīng)用
MEMS,、半導(dǎo)體材料,、太陽能、摩擦磨損,、汽車,、腐蝕、砂紙,、巖石等,。