原子力顯微鏡（AFM）技術(shù)參數(shù)：

1,、 掃描器掃描范圍：125μm×125μm×5μm

10μm×10μm×2.5μm

2、噪聲水平：≤0.3Å（高水平）

3,、分辨率：0.2nm,，可持續(xù)穩(wěn)定得到原子級(jí)分辨率

4、掃描方式：采用樣品掃描方式獲得高分辨掃描譜

圖,，探針保持位置恒定,。

原子力顯微鏡（AFM）應(yīng)用領(lǐng)域：

　　主要應(yīng)用于高分子、陶瓷,、金屬材料,、礦物的顯微結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)的觀測(cè)；粉末,、微球顆粒形狀,、尺寸及粒徑分布的觀測(cè),，以及材料的形貌、相分布,、機(jī)械性能等的測(cè)試,。

公司合作的大型儀器設(shè)備主要有頂端的透射電鏡（包括球差電鏡、FEI廠家的Tecnai G²F20,、Tecnai G² F30）,，美國(guó)和德國(guó)的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡、美國(guó)賽默飛的光電子能譜儀（XPS  ESCALAB250Xi）,，法國(guó)的拉曼（LabRAM HR Evolution）,，麥克儀器公司的物理吸附吸附儀、化學(xué)吸附儀,，粉末X射線衍射儀（D-MAX 2500/PC）等二十余臺(tái)大型設(shè)備,，服務(wù)對(duì)象主要有青島、武漢,、西安,、上海、北京,、哈爾濱等各大城市的高校及研究所,，面向全國(guó)各地。