多功能X射線衍射儀Ultima IV系列技術(shù)參數(shù) 

1. X射線發(fā)生器功率為3KW 
2. 測(cè)角儀為水平測(cè)角儀 
3. 測(cè)角儀小步進(jìn)為1/10000度 
4. 測(cè)角儀配程序式可變狹縫 
5. 高反射效率的石墨單色器 
6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路（帶Mirror）（理學(xué)*） 
7. 小角散射測(cè)試組件 
8. 多用途薄膜測(cè)試組件 
9. 微區(qū)測(cè)試組件 
10. In-Plane測(cè)試組件（理學(xué)*） 
11. 高速探測(cè)器D/teX-Ultra 
12. X射線衍射-差示掃描量熱儀同時(shí)測(cè)量裝置 XRD-DSC 
13. 分析軟件包括：XRD分析軟件包,、NANO-Solver軟件包,、GXRR軟件包等 

多功能X射線衍射儀Ultima IV系列主要特點(diǎn)： 
可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。 
可以分析的材料包括：金屬材料,、無機(jī)材料,、復(fù)合材料、有機(jī)材料,、納米材料,、超導(dǎo)材料 
可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品,、薄膜樣品,、微區(qū)微量樣品 
主要的應(yīng)用有： 
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析 
2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小 
3. 確定晶系,、晶粒大小與畸變 
4. Rietveld結(jié)構(gòu)分析 
5. 薄膜樣品分析,，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,，電荷密度 
6. In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu) 
7. 小角散射與納米材料粒徑分布 
8. 微區(qū)樣品的分析