2016年1月,，日本電子株式會(huì)社（JEOL）即同步推出了新款日本電子JEM-F200冷場發(fā)射透射電鏡。

日本電子JEM-F200冷場發(fā)射透射電鏡進(jìn)行了全新設(shè)計(jì),，在保障各種功能達(dá)到極限的同時(shí),，追求操作的簡單化和自動(dòng)化，為用戶提供透射電鏡操作的全新體驗(yàn),。具體特點(diǎn)如下：

（1）精煉的全新設(shè)計(jì)：在提高機(jī)械和電氣穩(wěn)定性的同時(shí),，憑借對透射電鏡的豐富經(jīng)驗(yàn),，對電鏡整體進(jìn)行了精煉全新設(shè)計(jì)，力求為用戶提供全新感受,；

（2）掃描系統(tǒng)：在照明系統(tǒng)掃描功能之上又增加了成像系統(tǒng)的掃描功能（選購件）可以獲得大范圍的STEM-EELS,；

（3）電鏡光源：冷場發(fā)射光源比其他電鏡使用的肖特基熱場發(fā)射光源能量發(fā)射度小，在TEM成像時(shí)相干性更好,，圖像質(zhì)量大大提高,；

（4）聚光鏡匯聚方式：新電鏡采用四級聚光鏡且亮度及會(huì)聚焦分開控制，很容易獲得追加實(shí)驗(yàn)條件,，避免了傳統(tǒng)的聚光鏡亮度與會(huì)聚焦同時(shí)控制,，有時(shí)會(huì)相互干擾，無法達(dá)到狀態(tài),。

（5）物鏡匯聚方式：物鏡上采用掃描方式,，可以獲得大范圍的STEM-EELS