Ultima Ⅳ理學(xué)組合型多功能水平X射線衍射儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 興和儀器（上海）有限公司-J
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2019/3/7 12:13:58
- 訪問(wèn)次數(shù) 889
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 多晶衍射儀 |
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Ultima Ⅳ理學(xué)組合型多功能水平X射線衍射儀特點(diǎn)：
光學(xué)系統(tǒng)調(diào)整自動(dòng)化——大幅縮短簡(jiǎn)化了切換光學(xué)系統(tǒng)所需的時(shí)間和程序,，提高整體效率,；
CBO技術(shù)具有高度靈活性——應(yīng)用于所有粉末·多晶材料評(píng)價(jià)
樣品位置自動(dòng)調(diào)整，和In-Plane測(cè)試相結(jié)合——高分辨率的應(yīng)力·選擇取向測(cè)試簡(jiǎn)便化
CBO技術(shù)和無(wú)需変更系統(tǒng)的In-Plane掃描——實(shí)現(xiàn)強(qiáng)的薄膜評(píng)價(jià)系統(tǒng)
新開發(fā)的In-situ——可以在特殊條件下測(cè)試
利用CBO和自動(dòng)調(diào)整裝置，僅添加附件即可對(duì)納米材料小角散射測(cè)試
Ultima Ⅳ理學(xué)組合型多功能水平X射線衍射儀主要的應(yīng)用有：
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計(jì)算結(jié)晶化度,、晶粒大小
3. 確定晶系,、晶粒大小與畸變
4. Rietveld結(jié)構(gòu)分析
5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相,、多層膜厚度,、表面粗糙度，電荷密度
6. In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)
7. 小角散射與納米材料粒徑分布
8. 微區(qū)樣品的分析
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