單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)
- 公司名稱 上海埃飛電子科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2017/9/15 16:45:39
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KP020單點(diǎn)開爾文探針(非掃描)
開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢,,表面功函由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定,,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù),KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界zui高分辨率的測試系統(tǒng),。
特點(diǎn)
● zui高的功函/表面電勢分辨率:1-3meV(2mm探針)
● 與壓電系統(tǒng)相比采用音圈驅(qū)動(dòng)具有很高的驅(qū)動(dòng)噪聲抑制
● 過零信號檢測系統(tǒng)極大的提高了分辨率,,信噪比性能
● 測試和掃描時(shí)探針尖與樣品的高度調(diào)節(jié)功能可得到穩(wěn)定的、可靠的和重復(fù)的結(jié)果
● 探針參數(shù)全部采用數(shù)字控制
系統(tǒng)參數(shù)
● 2mm and 50μm探針
● 功函分辨率1-3meV(2mm探針),,5-10meV(50μm探針,,光學(xué)防震臺(tái))
● 手動(dòng)高度控制(25.4mm KP 平移)
● 跟蹤系統(tǒng)自動(dòng)控制樣品和探針距離
● 過零信號檢測系統(tǒng)抑制寄生電容
軟件性能
● 數(shù)字控制所有開爾文探針參數(shù)
● 簡單的信號優(yōu)化設(shè)置過程
● 快速測量模式用于跟蹤實(shí)時(shí)功函變化(1000points/min at ~20meV分辨率)
選件
● 樣品加熱器 Sample Heater
● 可升級至掃描系統(tǒng)
● 可升級至RHC系統(tǒng)
● 表面光電壓模塊SPV020 and SPS030
● 鍍金探針