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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>元素分析儀>金屬多元素分析儀> TXRF血液重金屬檢測

TXRF血液重金屬檢測

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鉑悅儀器自2004年成立以來,,憑借與世界各大儀器品牌的戰(zhàn)略合作關(guān)系,,以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營管理,提高服務(wù)質(zhì)量,,成為中國國內(nèi)的儀器供應(yīng)商,。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè),產(chǎn)品包括高精度的分析儀器,、檢測儀器和生產(chǎn)設(shè)備,,以及配套的耗材和配件,這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于工業(yè),、環(huán)境,、食品、生物,、地質(zhì),、半導(dǎo)體、太陽能,、醫(yī)藥,、醫(yī)療器械、藝術(shù)考古,、刑偵等各個領(lǐng)域并服務(wù)于各大院校,、研究所、檢測機構(gòu),、及政府部門等,。

鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品,更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售,、應(yīng)用支持和售后服務(wù)團隊,。本著客戶至上的原則,從客戶的實際需求出發(fā),,鉑悅儀器為客戶提供儀器銷售,,安裝培訓(xùn),應(yīng)用支持,,代檢測服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù)等綜合解決方案,,并提供持續(xù)而良好的售后服務(wù),由此也獲得了廣大客戶的信任與認可,。

企業(yè)文化Corporate Culture: CREDIT

C- Confidence: 自信

R- Responsibility: 責(zé)任心

E- Efficiency: 效率

D- Diligence: 勤奮

I- Intelligence: 機智

T- Trust: 信任

鉑悅儀器持續(xù)為您提供:儀器銷售,,安裝培訓(xùn),,應(yīng)用支持,代檢測服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù),。

行業(yè)涵蓋:

工業(yè),、環(huán)境、食品,、生物,、地質(zhì)、半導(dǎo)體,、太陽能,、醫(yī)藥、醫(yī)療器械,、藝術(shù)考古,、刑偵

應(yīng)用范圍:

材料成份分析(定性/定量)
大面積材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D掃描--快速3D成像
CT--3D內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析
太陽能IV檢測

產(chǎn)品:

-- 直讀光譜儀
-- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
-- 科研級手持式XRF分析儀TRACER
-- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
-- 便攜臺式XRF分析儀 CTX
-- 微區(qū)X射線熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
-- 巖芯分析儀
-- 臺階儀、光學(xué)輪廓儀,、原子力顯微鏡AFM
-- 臺式X射線熒光測厚儀
-- X射線透射系統(tǒng)/3D斷層掃描系統(tǒng) (CT )
-- 3D掃描儀
-- 便攜式IV曲線檢測儀

 

 

 

 

 

巖芯分析儀,,微區(qū)X射線熒光光譜儀,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,,藝術(shù)與考古分析儀

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,地礦,建材/家具

TXRF血液重金屬檢測

痕量分析 TXRF 光譜儀

快速多元素痕量分析

血液重金屬檢測

可對固體,、粉末、液體,、懸浮物,、過濾物、大氣飄塵,、薄膜樣品等進行定性,、定量分析,元素范圍13Al-92U,,含量范圍ppb至,,檢出限到2pg。 
需要樣品量少,,液體及懸浮物樣品1-50微升,,粉末樣品10微克以內(nèi)。 
的便攜式全反射熒光儀,,設(shè)備小巧,,一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計,不需要任何輔助設(shè)備及氣體,、液氮等,,可拿到現(xiàn)場進行分析。 
1位及25位全自動進樣器兩款設(shè)計,分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析,。 
第四代XFlash?SDD硅漂移探測器,,采用帕爾貼冷卻技術(shù),不需要液氮,,沒有任何消耗,。分辨率優(yōu)于160eV at MnKa 100Kcps。 
由于全反射無背景,,熒光強度與元素含量直接成正比。標(biāo)準(zhǔn)曲線工廠已校準(zhǔn)好,,用戶不需要標(biāo)樣就可以進行定量分析,。
應(yīng)用:水、廢水,、土壤中的污染元素,;血液、尿液,、組織中的有毒元素,;食品、醫(yī)藥,、刑偵,、環(huán)保、陶瓷,、水泥,、建材、地質(zhì)等領(lǐng)域,。

全反射X射線熒光光譜儀的工作原理(TXRF) 
X射線熒光光譜分析法(XRF)的原理:原子受原級X射線激發(fā)后,,發(fā)出次級X射線熒光。因此,,XRF 分析法可以: 
根據(jù)熒光的波長和能量,,確定元素; 
各元素的濃度可根據(jù)熒光的強度進行計算,。 

X 射線由Mo靶或W靶產(chǎn)生,,在Ni/C人工多層膜上反射并單色化。扁平的光束以非常小的角度(0.3 – 0.6 °)掠射裝有樣品的樣品架,,并產(chǎn)生全反射,。樣品所產(chǎn)生的特征熒光被能量色散探測器(XFlash? detector) 探測,強度通過偶合的多通道分析器測量,。



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