ScanWorks測試系統(tǒng)組成
（1） ScanWorks測試軟件結(jié)構(gòu)
ScanWorks測試軟件主要實(shí)現(xiàn)兩個(gè)功能：1. 根據(jù)網(wǎng)絡(luò)表和JTAG芯片的BSDL文件,，產(chǎn)生包含所需要的測試數(shù)據(jù)串（脈沖序列代碼）的測試程序；
2. 生成存儲(chǔ)器和可編程器件在線燒錄數(shù)據(jù),。
ScanWorks測試軟件基本功能還包括：
·生成測試覆蓋率報(bào)告
·測試錯(cuò)誤的分析診斷（管腳級(jí)）及圖形顯示
·程序調(diào)試
·執(zhí)行存儲(chǔ)器測試
·可編程器件程序燒錄
（2） ScanWorks測試系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)
ScanWorks測試系統(tǒng)硬件的功能：將程序中的測試數(shù)據(jù)串（脈沖序列代碼）轉(zhuǎn)換成實(shí)際的脈沖序列,，輸出給待測電路板，并且接收測試數(shù)據(jù)回到測試系統(tǒng)中,，從而實(shí)施測試,。簡單的講就是測試系統(tǒng)與待測電路板的通訊接口。
ScanWorks測試系統(tǒng)硬件基本包括：
·一臺(tái)PC, Windows XP,，2000 or NT的操作系統(tǒng)
·卡式JTAG控制器（PCI-100,，PCI-400 PCI card）
·接口適配盒
·電纜
美國ASSET InterTech:
美國ASSET InterTech邊界掃描公司是一家有13年歷史,專業(yè)從事邊界掃描技術(shù)開發(fā)與研究的公司，其開發(fā)的邊界掃描工具在銷售市場的占有率*,，并且與摩托羅拉,，諾基亞,，思科等公司有著*良好的合作關(guān)系,，在邊界掃描項(xiàng)目中連續(xù)三年獲得Best in Test大獎(jiǎng)，參與(IEEE1149.1, 1149.4, 1532,1149.6,IJTAG)標(biāo)準(zhǔn)的制定,，在業(yè)內(nèi)享有良好的口碑和信譽(yù),。
美國的ASSET 公司利用邊界掃描的技術(shù)開發(fā)了的線路檢測設(shè)備，相對(duì)于傳統(tǒng)的檢測方式,，ASSET公司開發(fā)的新產(chǎn)品具有尺寸小,、使用方便以及可靠性高等特點(diǎn)。
整個(gè)JTAG測試系統(tǒng)(PCI-400系統(tǒng))結(jié)構(gòu)如圖所示：



JTAG測試的硬件連線
PCI-400特點(diǎn):
大容量: 超過7000個(gè)零件模型
速度快:2~10秒準(zhǔn)確找出故障點(diǎn),，整板測試時(shí)間小于30秒（不包括Flash編程）
準(zhǔn)確率高:可以準(zhǔn)確定位至網(wǎng)絡(luò)或零件腳
數(shù)據(jù)分析:對(duì)故障點(diǎn)進(jìn)行準(zhǔn)確的分析并產(chǎn)生詳細(xì)的報(bào)告
應(yīng)用范圍:
??準(zhǔn)確的測試線路的開短路
  解決PCB測試點(diǎn)減少的問題（針對(duì)于物理探測點(diǎn)少）
??測試晶片的焊接問題 (特別是BGA)
??可以直接在板上通過邊界掃描芯片對(duì)可編程晶片進(jìn)行編程（包括FLASH和CPLD等）
??對(duì)新產(chǎn)品的測試使用時(shí)間短
??快速生產(chǎn)測試可以節(jié)省測試時(shí)間
??高級(jí)與快速板卡修理
??測試和技術(shù)再利用 (產(chǎn)品周期), 隨時(shí) –隨地測試 – 無需培訓(xùn) (運(yùn)行測試)



內(nèi)部故障定位瀏覽器：



通過內(nèi)部故障定位器準(zhǔn)確的反應(yīng)了當(dāng)前電路板的情況,，無需輸入復(fù)雜的指令來進(jìn)行操作，通過接口信號(hào)傳輸利用掃描,可以快速的對(duì)當(dāng)前所反映出的錯(cuò)誤來進(jìn)行維修.



邊界掃描原理
IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一個(gè)四線串行接口(第五條線是可選的),，該接口稱作測試訪問端口 (TAP),，用于訪問復(fù)雜的集成電路 (IC)，例如微處理器,、DSP,、ASIC 和 CPLD。 除了 TAP 之外,，混合 IC內(nèi)部也包含移位寄存器和狀態(tài)機(jī),，以執(zhí)行邊界掃描功能。 在 TDI(測試數(shù)據(jù)輸入)引線上輸入到芯片中的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在指令寄存器中或數(shù)據(jù)寄存器中,。 串行數(shù)據(jù)從 TDO(測試數(shù)據(jù)輸出)引線上離開芯片,。 邊界掃描邏輯由 TCK(測試時(shí)鐘)上的信號(hào)計(jì)時(shí),，而且 TMS(測試模式選擇)信號(hào)驅(qū)動(dòng) TAP 控制器的狀態(tài)。 TRST*(測試重置)是可選項(xiàng),，而且可作為硬件重置信號(hào),。 在 PCB 上可串行互連多個(gè)可兼容掃描功能的 IC，形成一個(gè)或多個(gè)邊界掃描鏈,，每一個(gè)鏈有其自己的 TAP,。 每一個(gè)掃描鏈提供電氣訪問，從串行 TAP 接口到作為鏈的一部分的每一個(gè) IC 上的每一個(gè)引線,。 在正常操作過程中,，IC 執(zhí)行其預(yù)定功能，就好像邊界掃描電路不存在,。 但是,，當(dāng)為了進(jìn)行測試或在系統(tǒng)編程而激活設(shè)備的掃描邏輯時(shí)，數(shù)據(jù)可以傳送到 IC 中,，并且使用串行接口從 IC 中讀取出來,。 這樣的數(shù)據(jù)可以用來激活設(shè)備核心，將信號(hào)從設(shè)備引線發(fā)送到 PCB 上,，讀出 PCB 的輸入引線并讀出設(shè)備輸出,。