表面光電壓法的基本原理?12
表面光電壓法(Surface Photovoltage Method,,簡稱SPV法)是通過測量由于光照在半導(dǎo)體材料表面產(chǎn)生的表面電壓來獲得少數(shù)載流子擴散長度的方法,。其原理是:用能量大于半導(dǎo)體材料禁帶寬度的單色光照射在半導(dǎo)體材料表面,在其內(nèi)部產(chǎn)生電子-空穴對,,受濃度梯度驅(qū)動擴散至半導(dǎo)體材料近表面空間電荷區(qū)的電子和空穴將被自建電場分離,,形成光生電壓,,即表面光電壓
表面光電壓法的應(yīng)用和優(yōu)勢
SPV法是表征半導(dǎo)體材料少子擴散長度的主要方法,,具有以下優(yōu)點:
是一種穩(wěn)態(tài)方法,,與時間無關(guān),避免了體內(nèi)和表面復(fù)合對測試結(jié)果的影響,。
一般情況下,,表面復(fù)合過程不影響少子擴散長度的測試結(jié)果,表面復(fù)合速率只對表面光電壓信號強度產(chǎn)生影響,,因此無須特殊處理材料的表面,。
是一種無接觸的測試方法,,測試成本低,、易于操作、不容易受到干擾,,并且可以實施面掃描(mapping),。