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一、原位雙軸測試儀的功能與意義

1. 設(shè)備概述

• 定義：一種可同時對材料或結(jié)構(gòu)施加雙軸（X/Y方向）力學(xué)載荷的測試設(shè)備,，支持實時監(jiān)測形變,、應(yīng)力-應(yīng)變曲線及失效過程。

• 核心參數(shù)：載荷范圍（N/kN）,、位移分辨率（μm）,、加載頻率、溫度/濕度環(huán)境集成能力,。

2. 應(yīng)用場景

• 模擬芯片封裝在復(fù)雜工況下的多軸應(yīng)力狀態(tài)（如封裝翹曲,、基板彎曲、焊點剪切疲勞）,。

• 評估材料界面（如塑封料與基板,、TSV通孔與硅）的抗分層能力。

二,、教學(xué)模塊融合設(shè)計

模塊1：理論基礎(chǔ)補充

1. 雙軸力學(xué)與封裝失效

• 雙軸應(yīng)力對封裝結(jié)構(gòu)的疊加效應(yīng)（如熱膨脹+機械彎曲導(dǎo)致的分層風(fēng)險）,。

• 對比單軸測試的局限性，強調(diào)多軸測試的必要性,。

2. 原位測試技術(shù)原理

• 實時觀測技術(shù)：結(jié)合數(shù)字圖像相關(guān)（DIC）或顯微攝像頭,，捕捉形變與裂紋擴展過程。

• 同步環(huán)境控制：高溫/低溫,、濕度環(huán)境與力學(xué)加載的耦合測試方法,。

教學(xué)形式：

• 動畫演示雙軸應(yīng)力分布（如ANSYS仿真結(jié)果）。

• 文獻(xiàn)案例：某3D封裝因雙軸翹曲導(dǎo)致TSV斷裂的分析,。

模塊2：新增實驗項目

實驗4：原位雙軸力學(xué)測試

1. 實驗?zāi)繕?biāo)

• 掌握雙軸測試儀操作流程,，分析封裝結(jié)構(gòu)在復(fù)合應(yīng)力下的失效模式。

• 關(guān)聯(lián)實際場景（如芯片貼裝后的板級彎曲,、車載振動+溫度沖擊）,。

2. 實驗步驟

• 實時記錄應(yīng)力-應(yīng)變曲線,、DIC全場形變數(shù)據(jù)。

• 通過顯微攝像頭觀察界面分層或焊點裂紋萌生過程,。

• 雙軸載荷模式（同步拉伸/壓縮,，或非對稱加載）。

• 環(huán)境條件（可選：85℃高溫或-40℃低溫）,。

• 樣品制備：封裝樣品（如BGA,、QFN）固定在雙軸測試臺，表面噴涂散斑（DIC用）,。

• 參數(shù)設(shè)置：

• 數(shù)據(jù)采集：

3. 分析要求

• 繪制雙軸應(yīng)力-應(yīng)變曲線,，計算屈服強度與斷裂韌性。

• 結(jié)合DIC數(shù)據(jù),，定位初始失效位置并分析應(yīng)力集中原因。

教學(xué)形式：

• 分組操作（4人/組）,，分角色負(fù)責(zé)設(shè)備操作,、數(shù)據(jù)記錄、顯微觀察,。

• 對比單軸與雙軸測試結(jié)果,，討論多軸載荷對失效機制的影響。

模塊3：進(jìn)階案例分析

案例3：FCBGA封裝在板級彎曲下的雙軸失效

1. 背景：某服務(wù)器CPU在主板安裝后出現(xiàn)隨機失效,，推測為封裝翹曲導(dǎo)致焊點疲勞,。

2. 測試過程：

• 使用原位雙軸測試儀模擬主板彎曲（X/Y方向非對稱加載）。

• 同步紅外熱成像監(jiān)測芯片溫度分布,，關(guān)聯(lián)熱-力耦合效應(yīng),。

3. 結(jié)論：

• 焊點裂紋起源于基板邊緣（應(yīng)力集中區(qū)），建議優(yōu)化基板CTE或增加底部填充膠,。

教學(xué)形式：

• 提供真實測試數(shù)據(jù)（載荷曲線,、DIC形變圖、失效顯微照片）,，小組討論失效路徑,。

• 結(jié)合仿真軟件（如ABAQUS）復(fù)現(xiàn)應(yīng)力分布，驗證實驗結(jié)論,。

三,、教學(xué)資源擴展

1. 設(shè)備清單更新

• 原位雙軸測試儀（配備環(huán)境箱、DIC系統(tǒng)）,、紅外熱像儀,、高速顯微攝像頭。

2. 虛擬仿真工具

• 雙軸力學(xué)仿真模塊（COMSOL Multiphysics或ANSYS Mechanical）,。

3. 參考資料

• 論文：《雙軸加載下塑封材料界面分層行為研究》,。

• 標(biāo)準(zhǔn)：JEDEC JESD22-B113（板級彎曲測試方法）,。

四、考核方式調(diào)整

1. 實驗報告新增要求（20%）

• 分析雙軸與單軸測試的失效模式差異,，提出設(shè)計優(yōu)化建議,。

2. 實操考核新增項目

• 任務(wù)：設(shè)置雙軸非對稱加載參數(shù)（如X方向拉伸10N，Y方向壓縮5N）,，并解釋其對封裝可靠性的影響,。

五、擴展討論

1. 先進(jìn)封裝挑戰(zhàn)

• 柔性電子封裝的雙軸疲勞測試（如折疊屏芯片的彎曲+拉伸耦合失效）,。

2. 智能化應(yīng)用

• 基于機器學(xué)習(xí)的雙軸載荷-失效預(yù)測模型（輸入應(yīng)力分布,、材料參數(shù)，輸出壽命估計）,。

通過融入原位雙軸測試儀,，學(xué)生可深入理解復(fù)雜應(yīng)力環(huán)境下封裝失效的多物理場耦合機制，掌握先進(jìn)封裝可靠性分析的核心技術(shù),，契合行業(yè)對高精度,、多維度測試能力的需求。