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創(chuàng)銳光譜堅持自主創(chuàng)新、技術獨立 推進高端科研儀器國產化替代和前沿引領
在當下國際經濟與科技格局中,，貿易摩擦風云變幻,，深刻影響著各個領域的發(fā)展走向。加速科研設備的國產化替代進程已然成為我國科研及相關產業(yè)持續(xù),、穩(wěn)健發(fā)展的必然選擇與迫切需求,。
創(chuàng)銳光譜作為時間分辨光譜技術領域的企業(yè)，自2016年成立之初,，便堅持走高端科研儀器自主研發(fā),、自主生產的發(fā)展路線。堅持核心部件自研,，將解決“關鍵技術卡脖子”問題作為目標。歷經近10年的艱苦探索,，已成功實現(xiàn)包括納秒激光器,、OPO、高速光電探測器,、高穩(wěn)定直線位移臺,、單色儀等在內的多個核心零部件研發(fā)或國產化替代，形成穩(wěn)定的自研及本土供應系統(tǒng),。部分核心技術指標更是實現(xiàn)對國外進口設備的超越,。創(chuàng)銳光譜基于深厚的技術積累與創(chuàng)新實踐，陸續(xù)構建起涵蓋瞬態(tài)吸收系列,、熒光光譜系列,、非線性光學系列、高速光電探測器,、高能高頻納秒激光器,、泛半導體光學無損檢測系列等總計六大類，近30款相關產品,，為我國科研及相關產業(yè)發(fā)展提供了有力的技術支撐與產品保障。
代表產品：
超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)
首套國產超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)
自研直線位移臺、自研高速光譜儀,、自研分析軟件
時間窗口：8 ns
覆蓋光譜范圍：280-1650 nm
時間分辨率1.5x 激光脈寬
系統(tǒng)信噪比：≤10-5 OD
支持可見,、近紅外成像探測
支持透射,、反射等多種測試模式
全國產化閃光光解系統(tǒng)
自研單色儀、自研納秒激光器
·雙單色儀設計,，在樣品前分光,，有效減少樣品損傷
·配備500 M示波器，時間分辨率高達2 ns
·多功能樣品室,，并可搭配流動池使用
·全自動數據采集/分析系統(tǒng),，支持多種模式數據擬合程序
高能高頻DPSS連續(xù)可調一體式激光器
一體式機身，高能高頻輸出,，針對醫(yī)療,、環(huán)境探測、激光雷達領域,。波長連續(xù)可調諧,。
國產化百KHz雙線陣探測器
SiC，作為優(yōu)秀的第三代半導體材料,，在6G技術發(fā)展,、航空航天等前沿領域占據著重要的地位。但SiC 晶圓無損缺陷檢測技術的缺失,，一直是制約我國相關產業(yè)發(fā)展的難題,。相關廠商每年因有損檢測導致的晶圓損耗金額高達千萬元，這不僅造成資源浪費,，也阻礙了產業(yè)的高效發(fā)展,。創(chuàng)銳光譜創(chuàng)新性地將時間分辨光譜技術運用在SiC晶圓無損檢測上，推出世界首套SiC位錯無損檢測系統(tǒng),。這對于國內SiC企業(yè)降本增效,、從源頭上降低全行業(yè)產業(yè)鏈的生產成本，有著積極重要的意義,。
SiC晶圓襯底位錯無損檢測系統(tǒng)
關鍵指標：
支持晶圓尺寸：4’/6’/8’/12’
支持晶錠尺寸：8’
位錯類型：TED/BPD/TSD
單片檢測時間：≤5 min（自動多倉版）,；15 min（手動版）
無損檢測，可實現(xiàn)自動片片檢,，全面提升晶圓良率,。
創(chuàng)銳光譜愿與國內所有科研單位及國產企業(yè)攜手共進，全力推動科研設備國產化進程,，共同書寫屬于中國科技的崛起篇章,。
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