光模塊是現(xiàn)代通信技術(shù)的核心組成部分，廣泛應(yīng)用于數(shù)據(jù)中心,、5G網(wǎng)絡(luò)和光纖通信等領(lǐng)域。光模塊通常由光發(fā)射組件,、光接收組件,、激光器芯片（LD）、探測(cè)器芯片(PD）等部件組成,。為了確保這些器件在高性能,、高速率和高穩(wěn)定性的要求下正常運(yùn)行，測(cè)試設(shè)備的精確性和可靠性至關(guān)重要,。ITECH的IT2800系列源表憑借其高精度,、高分辨率和高速脈沖掃描優(yōu)勢(shì)，為光模塊及其核心光電芯片測(cè)試提供了優(yōu)秀的解決方案,。

以一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的激光芯片測(cè)試為例,，其LIV特性的核心測(cè)試參數(shù)包括：

1、IV特性---給激光芯片的兩端施加正向的驅(qū)動(dòng)電流（比如從1mA到100mA,，階梯為1mA）,，進(jìn)行掃描得到IV特性曲線。

2,、光功率測(cè)試---測(cè)試激光芯片在每個(gè)電流臺(tái)階驅(qū)動(dòng)下的發(fā)光的光功率,。

3、暗電流測(cè)試---測(cè)試LD在每個(gè)電流臺(tái)階上的背光電流,，電流通常為mA,，uA甚至跟小級(jí)別。

有些廠家會(huì)將LIV測(cè)試和光譜分析在同一測(cè)試中進(jìn)行,，以簡(jiǎn)化測(cè)試,。當(dāng)然，除了LIV測(cè)試,，激光芯片還需要進(jìn)行可靠性測(cè)試,，例如在不同溫濕度條件下，驗(yàn)證其性能的穩(wěn)定性,。

IT2800系列源表為激光芯片的LIV特性測(cè)試提供精準(zhǔn)的解決方案

IT2800系列源表集六種設(shè)備功能于一體（電壓源,、電流源、DVM、電子負(fù)載,、電池模擬器、電池模擬器）,，提供DC和脈沖兩種輸出模式,，能夠滿足光模塊成品和高精密光芯片測(cè)試中的多種需求。

1.高精度測(cè)量----激光芯片的暗電流測(cè)試

在暗電流測(cè)量中,，IT2800系列提供高達(dá)100nV/10fA的電流分辨率,，能夠精確捕捉微弱電流信號(hào)，為光芯片的性能評(píng)估提供重要依據(jù),。同時(shí),，為顯著提升nA至pA微弱電流的測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定性，IT2800系列提供專(zhuān)業(yè)的高屏蔽三同軸線纜等選配件,，解決實(shí)際測(cè)量中,，微弱電流信號(hào)受到外部干擾而導(dǎo)致測(cè)量出現(xiàn)較大偏差等常見(jiàn)問(wèn)題。

2.DC和脈沖掃描輸出模式-----激光芯片LIV特性測(cè)試

IT2800系列源表通過(guò)精準(zhǔn)輸出恒定電流,，為激光芯片提供驅(qū)動(dòng)電流信號(hào),，并同步測(cè)量光芯片的光功率輸出，可幫助用戶實(shí)現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試,。同時(shí),，IT2800系列還提供多種掃描模式，如Linear/Log/ Pulsed Linear/ Pulsed Log,，用戶可以通過(guò)該內(nèi)置的掃描功能快速生成激光芯片的IV特性曲線,，提高測(cè)試效率。

優(yōu)勢(shì)1：IT2800系列采用大屏顯示,，可直接測(cè)試并輸出IV測(cè)試,，高效便捷

優(yōu)勢(shì)2：脈沖輸出高速且無(wú)過(guò)沖

光模塊和光芯片作為現(xiàn)代通信技術(shù)的基石，其測(cè)試的精準(zhǔn)性和可靠性決定了終端設(shè)備的性能表現(xiàn),。ITECH艾德克斯IT2800系列源表憑借高精度,、多合一設(shè)計(jì)，及高效的測(cè)量方案,，為光模塊和光芯片的測(cè)試提供了各方面的支持,，幫助客戶提升產(chǎn)品質(zhì)量，加速研發(fā)進(jìn)程,。

我們的優(yōu)勢(shì)：是德,、泰克、日置,、固緯,、艾德克斯、普源、同惠,、鼎陽(yáng),、安柏等。