本應用測試針對非標稱50Ω的線纜,，包括同軸,、雙絞線、差分高速數(shù)據(jù)線的測試,，包括阻抗參數(shù),、S參數(shù)（插損、駐波,、Smith圖等等）,，也可以繪制眼圖。

　　根據(jù)電纜的性能,，如頻率范圍,、長度、是否差分,，設置時域門控,，可以按照線纜連接的位置，門控選通,，獲得實際物理線纜的各項參數(shù)結果,。門控選通測試結果對應被測線纜，不含接頭和夾具以及其它測試線纜,。

　　 測試要點：

　　由于被測線纜不是50Ω標準同軸線纜,，可能是高速數(shù)據(jù)線、差分線等,。

　　用網(wǎng)絡分析儀測試時,，測試端口是標準50Ω同軸線纜，因此在連接被測電纜時要求使用轉接頭或夾具,，而這些接頭和夾具的S參數(shù)未知,，需要去除其影響，才能獲得被測線纜的實際參數(shù),。

　　目前常用的方法是去嵌入或夾具移除法,，這些方法要求精確設計的夾具和微帶校準件，校準后移除夾具的S參數(shù),。其難點在于夾具及其校準件的制作,，通常校準件的參數(shù)是理論設計值,，跟實際值有一定差距，并且校準和得到的夾具自身S參數(shù),，可能造成實測數(shù)據(jù)曲線的波動,，甚至錯誤。

　　本方法采用通用校準方法,，通過時域選通功能,，定位到被測電纜，實測數(shù)據(jù)自動排除接頭和夾具的影響,。

　　測試原理：

　　時域分析是矢量網(wǎng)絡分析儀的一個功能選項,，時域分析中被測量是時間的函數(shù)。對于均勻介質中的傳輸,，時間軸等效于距離軸,。理論上，任意被測量例如阻抗Z,、導納Y 或S 參數(shù)都可以用脈沖響應或階躍響應在時域來表征,。

　　矢量網(wǎng)絡分析儀通過頻域分析參數(shù)的數(shù)據(jù)結果，通過FFT反變換及濾波和加窗,，得到時域測試參數(shù),，橫軸為時間軸，分析脈沖響應或階躍響應,。對于均勻介質中的傳輸,，時間軸等效于距離軸。

　　快速傅里葉(FFT)正反變換是矢量網(wǎng)絡分析儀實現(xiàn)時域分析的基礎,。用矢量網(wǎng)絡分析儀時域分析時,，需要根據(jù)被測件電長度L界定模糊距離，從而定義頻率間隔Δf,；需要根據(jù)需求定義電長度分辨率（時間間隔分辨率）,，從而定義頻率寬度SPAN。

　　最大無模糊距離

　　時間（長度）分辨率

　　注意,，單端（S11）測試距離和時間,，信號往返，是雙端單向傳輸（S21）的2倍,。如果被測線纜的電長度小于最大無模糊距離的2倍時,，連接線纜單端（S11）測試的末端要連接匹配負載，否則末端開路或短路會在測試范圍內產生模糊信號,。

　　使用“時間門”選擇脈沖響應中的特定部分而抑制其余部分,。時間門在時域分析狀態(tài)進行選取和配置。時間門選取的時間片段對應測試通道內的某一段位置，在時域分析模式選取時間門,，對應電纜連接監(jiān)控位置點,，打開時間門后,，切換到頻域進行監(jiān)測,。

　　測試方法：

　　DUT為線纜，可以是10Ω~1kΩ內任意阻抗,；

　　被測電纜焊接50Ω同軸接頭,，如SMA、N;

　　如果DUT為差分電纜,，每個電纜對焊接兩對50Ω同軸接頭,，每對接頭外殼導體互聯(lián)，并連接DUT屏蔽層,。

　　測試之前校準,。

　　測試窗口分兩個Channel:

　　Ch1線纜插入損耗: S21測試，采用帶通沖擊響應,，在第一峰值處門控選通,，至少包含一對時域副瓣；

　　Ch2線纜阻抗: Z11測試,，采用低通階躍響應,，門控選通，包含DUT長度50%~80%,。

　　測試驗證：

　　DUT: 75Ω同軸,，頻率范圍3GHz，長度914mm

　　S21插損初始測試結果：

　　S21時域門控設置：

　　S21插損,，門控選通修正測試結果：

　　Z11阻抗測試結果：

　　在產線測試中如何批量進行電纜的S參數(shù)測試,？

　　在生產產線中，由于測試量巨大,，對于被測件需要逐一進行手動測試,。如上述進行駐波比參數(shù)的測量，就需要一遍遍地進行參數(shù)設置,，這樣傳統(tǒng)的手動測試不僅效率低下,，測試數(shù)據(jù)手動記錄對于數(shù)據(jù)的準確性也無法保證，同時也無法進行數(shù)據(jù)的追溯,。因此傳統(tǒng)的手動測試逐漸被射頻產線自動化測試軟件所替代,，NSAT-1000射頻無源器件自動測試系統(tǒng)能夠實現(xiàn)對線纜等無源器件進行自動化測試，測試場景如圖所示,。用戶只要錄入測試被測產品的批次號,、型號以及編號，便可對產品進行自動測試，并保存測試數(shù)據(jù)到數(shù)據(jù)庫,，用戶可根據(jù)需要查詢測試數(shù)據(jù)并生成報表,。