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CGJDN-1200型超高溫介電溫譜儀
參考價(jià) | ¥ 555 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱(chēng) 北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/6/27 17:49:30
- 訪問(wèn)次數(shù) 37
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壓電測(cè)試儀,準(zhǔn)靜態(tài)d33測(cè)量?jī)x,,d33測(cè)量?jī)x,介電測(cè)量系統(tǒng),,壓電測(cè)量系統(tǒng),,鐵電材料測(cè)試儀
產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
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關(guān)鍵詞:超高溫,介電溫譜,,阻抗
CGJDN-1200型超高溫介電溫譜儀是一款提供超高溫環(huán)境的高溫介電溫譜儀,,該儀器采用紅外鍍金聚焦?fàn)t或電加熱技術(shù), 雙屏蔽高頻測(cè)試線纜、抗電網(wǎng)諧波模塊,,確保高頻弱信號(hào)測(cè)量穩(wěn)定性. 支持4個(gè)樣品同步測(cè)量,,提升效率, 可疊加0–5000V直流高壓,研究材料在外電場(chǎng)下的性能變化,是目前高校和研究所研究材料的重要設(shè)備,。
主要測(cè)試指標(biāo):
1,、 Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc ,Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc,R-X,Z-θd, Z-θr,G-B,Y-θd, Y-θr,Vdc-Idc;
2,、 高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)用于高低溫環(huán)境下材料,、器件的介電性能測(cè)試與分析,可測(cè)試以下參數(shù)隨溫度(T),、頻率(f),、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:電容(C),、電感(L),、電阻(R)、電抗(X),、阻抗(Z),、相位角(?)、電導(dǎo)(B),、導(dǎo)納(Y),、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù),,同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料介電性能的復(fù)介電常數(shù)和介電損耗參數(shù),。
3、 系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單,、方便,,可靈活定制測(cè)試項(xiàng)目。測(cè)試材料的介電頻譜,、阻抗頻譜,、介電溫譜、阻抗溫譜、導(dǎo)納譜,、cole-cole圖以及C-V特性,。
一、核心組成與工作原理?
系統(tǒng)架構(gòu)?
高溫測(cè)試平臺(tái)?:提供高溫環(huán)境(室溫至1200℃),,采用紅外鍍金聚焦?fàn)t或電加熱技術(shù),,控溫精度可達(dá)±0.1℃。
測(cè)試夾具?:三電極法設(shè)計(jì),,鉑銥合金或氧化鋁-鉑金復(fù)合探針,支持真空氣氛環(huán)境測(cè)試,,減少寄生電容干擾,。.
阻抗分析儀?:頻率范圍10Hz–50MHz,精度0.05%,,支持復(fù)阻抗譜(Cole-Cole圖)及機(jī)電耦合系數(shù)分析,。
控制軟件?:集成Labview系統(tǒng),支持介電溫譜/頻譜,、升溫程序(勻速/階梯/循環(huán)),、數(shù)據(jù)自動(dòng)保存與異常保護(hù)。
關(guān)鍵技術(shù)?
抗干擾設(shè)計(jì)?:雙屏蔽高頻測(cè)試線纜,、抗電網(wǎng)諧波模塊,,確保高頻弱信號(hào)測(cè)量穩(wěn)定性1
多通道測(cè)試?:支持4個(gè)樣品同步測(cè)量,提升效率410,。
高壓擴(kuò)展?:部分型號(hào)(如GWGYJD-1000W)可疊加0–5000V直流高壓,,研究材料在外電場(chǎng)下的性能變化
主要技術(shù)參數(shù):
1、探針臺(tái)外形尺寸:180*160*35mm±5mm,;樣品臺(tái)可固定在光學(xué)平臺(tái)上,,溫度控制器通過(guò)網(wǎng)線和計(jì)算機(jī)聯(lián)絡(luò);
2,、探針要求:鎢鋼鍍金探針,,可滿(mǎn)足高溫下的介電溫譜測(cè)試;
3、冷熱方式:電阻加熱,;
4,、溫控范圍:RT~1200℃;
5,、溫度穩(wěn)定性:使用溫度<1000℃時(shí),,溫度精度±0.1℃,且使用溫度≥1000℃時(shí)溫度精度±0.5℃;
6,、溫度分辨率:0.01℃,;
7、升降溫速率:全溫度區(qū)間0~30℃/min(可定點(diǎn)/程序段控溫)
8、溫控方式:PID,;
9,、溫度傳感器:熱電偶;
10,、視窗材質(zhì):石英玻璃(可手動(dòng)拆卸更換),;
11、視窗尺寸:φ25mm,;
12,、探針:固定式探針*5;
13,、探針接口:BNC*5,;
14、樣品臺(tái)尺寸:35*35mm,;
15,、樣品臺(tái)材質(zhì):陶瓷;
16,、樣品腔高度:≥6mm,;
17、腔室:氣密腔室,;
18,、外殼冷卻:循環(huán)水。
19,、適配介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)(4通道),;提供4通道介電溫譜測(cè)試軟件;
19.1,、測(cè)試系統(tǒng)需自帶校準(zhǔn)程序,,在電腦端操作控制探針臺(tái)升降溫速率,目標(biāo)溫度,,可分段控制升溫速率,,具備即時(shí)記錄溫度點(diǎn)。
19.2,、多頻率同時(shí)采集,,操作簡(jiǎn)單,所有測(cè)試結(jié)果實(shí)時(shí)保存,,測(cè)試過(guò)程曲線繪制,。
19.3、測(cè)試頻率:20Hz—2MHz,;
19.4,、測(cè)試激勵(lì)電平:0至2Vrms/0至20mArms,;
19.5、測(cè)試指標(biāo):Cp-D, Cp-Q, Cp-G, Cp-Rp, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc ,Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc,R-X,Z-θd, Z-θr,G-B,Y-θd, Y-θr,Vdc-Idc,;
19.6,、測(cè)試精度:0.05%;
19.7,、測(cè)量時(shí)間:12ms(SHORT),118ms(MED),343ms(LONG)@1MHz,;
19.8、支持ALC自動(dòng)電平控制,;
19.9,、可支持201點(diǎn)的掃頻測(cè)量,可編程,,可任意設(shè)置頻率,,測(cè)量范圍以及激勵(lì)條件并自動(dòng)繪制顯示阻抗隨頻率變化曲線;
19.10,、支持線纜夾具補(bǔ)償校準(zhǔn)以及電纜延長(zhǎng)補(bǔ)償功能。