實驗設(shè)備：MSK-AFA-I流延涂覆機,、ZKC-250真空樣品貯存器,、DZF-6020真空干燥箱

MSK-AFA-I流延涂覆機	ZKC-250真空樣品儲藏罐	DZF-6020真空干燥箱

圖1實驗所用設(shè)備圖

實驗材料：液態(tài)硅膠、銅箔
實驗?zāi)康模菏褂昧餮油扛矙C將液態(tài)硅膠均勻涂覆在銅箔表面,，用真空干燥箱在90℃的環(huán)境下將薄膜烘干,，而后使用數(shù)顯千分尺測量烘干后薄膜的厚度和均勻性。
實驗過程：
①原料混合：
首先,，將液態(tài)硅膠原料按1:1的比例混合好,，混合后的液態(tài)硅膠內(nèi)充滿氣泡，將充滿氣泡的液態(tài)硅膠放入到ZKC-250真空樣品貯存器中,，對罐體抽真空使液體中的氣泡排出,，反復(fù)抽幾次真空，使膠體中所有氣泡全部排出,，從而降低氣泡對薄膜的影響,。
②樣品涂膜：
涂布前應(yīng)開啟真空泵將樣品固定在真空吸盤上，然后調(diào)節(jié)刮刀頂端的機械千分尺,，設(shè)置薄膜的涂覆厚度,，本實驗液態(tài)薄膜的涂覆厚度設(shè)置為50μm,。將脫泡后的液態(tài)硅膠用膠管吸出，擠入涂布機的刮刀內(nèi),，設(shè)置涂布行程和涂布速度,，然后開啟涂布機對銅箔進(jìn)行涂膜，擠入硅膠和涂膜后的試樣如圖所示：

擠入硅膠的試樣圖	涂膜后的試樣圖

圖2 擠入硅膠和涂膜后的試樣圖

③薄膜烘干測厚：
首先在制備薄膜前將烘箱溫度設(shè)置為90℃,，開啟烘干箱,，使溫度加熱至90℃待用，而后將涂覆后的薄膜平移（以防銅箔出現(xiàn)褶皺）至DZF-6020烘干箱中進(jìn)行烘干,，烘干時間設(shè)置為1小時,。烘干后取出帶有薄膜的銅箔，然后將薄膜從銅箔上撕下,，待薄膜變形恢復(fù)后使用數(shù)顯千分尺對薄膜厚度進(jìn)行測量,，測量結(jié)果如圖3所示，不同位置的薄膜厚度絕大部分為0.112㎜,、0.111㎜,、0.112㎜。

取下的薄膜樣品厚度圖1	取下的薄膜樣品厚度圖2
取下的薄膜樣品厚度圖3	取下后的薄膜樣品圖

圖3 從銅箔上取下的薄膜圖

實驗結(jié)論：通過對烘干后的薄膜進(jìn)行厚度測試可知,，整張薄膜絕大多數(shù)區(qū)域的厚度在0.111㎜-0.112㎜范偉內(nèi),，可見使用AFA-I刮膜機所涂覆的液態(tài)硅膠薄膜厚度均勻，液態(tài)硅膠薄膜可使用刮膜機進(jìn)行薄膜制備,。
設(shè)備優(yōu)勢：
1,、MSK-AFA-I自動涂布機廣泛用于各種平板涂膜研究，例如陶瓷類薄膜,、晶體類薄膜,、電池材料薄膜、特殊納米薄膜等,。該機采用真空吸附方法來對基片進(jìn)行固定,，使得在涂布過程中基片無褶皺現(xiàn)象產(chǎn)生，從而使得涂布更加均勻順暢,。制膜寬度可通過更換不通的制膜器進(jìn)行改變,，制膜厚度可通過制膜器進(jìn)行調(diào)節(jié)。制膜長度通過控制刮刀的行程來控制,，刮刀的行程可在10-290mm的范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)節(jié),。設(shè)備體積小巧，適合在實驗室中使用,。
2,、ZKC-250真空樣品貯存器可以貯存各種樣品，如生化試劑,、藥品,、光學(xué)鏡頭,、種子、精密元器件,、文物等,，防止其氧化、變質(zhì),。對不宜真空保存的物體,，通過變更進(jìn)、出氣口,，可以充入各種惰性保護(hù)氣體,，以達(dá)到防止氧化、變質(zhì)的作用,。本機也可以用來對物體進(jìn)行真空干燥,，且快速、安全有效,。
3,、DZF-6020真空干燥箱（真空烘箱）專為干燥熱敏性，易分解和易氧化物質(zhì)而設(shè)計,，能夠向內(nèi)部沖入惰性氣體,，特別是一些成分復(fù)雜的物品也能進(jìn)行快速干燥，也可用于普通環(huán)境下對一些材料進(jìn)行干燥,。