掃描電子顯微鏡在高分子中的常見應用有哪些,？

來源：北京培科創(chuàng)新技術有限公司 2022年09月01日 10:35

掃描電子顯微鏡（SEM）利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài),，在巖土,、石墨,、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用,。

SEM在高分子中的常見應用：

（1）觀察高聚物的形態(tài)和結構,；

（2）觀察結晶高聚物的晶態(tài)結構；

（3）研究材料共混相容性,；

（4）觀察高分子納米材料結構,；

（5）表征高分子材料的降解性；

（6）研究高分子材料的生物相容性,；

（7）研究多孔材料表面或斷面的孔特征,。

和光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點：

(1)能夠直接觀察樣品表面的結構,，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm,。

(2) 樣品制備過程簡單，不用切成薄片,。

(3) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉,，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察,。

(4) 景深大,，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍,，比透射電鏡大幾十倍,。

(5) 圖象的放大范圍廣,，分辨率也比較高,?？煞糯笫畮妆兜綆资f倍，它基本上包括了從放大鏡,、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍,。分辨率介于光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm,。

(6) 電子束對樣品的損傷與污染程度較小,。

(7) 在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發(fā)出的其他信號作微區(qū)成分分析,。

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