ELITE 系統 賽默飛（原FEI）鎖相紅外熱成像系統
- 公司名稱 賽默飛世爾科技（中國）有限公司
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號 ELITE 系統
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/4/17 16:16:43
- 訪問次數 527
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欲了解更多信息,，請瀏覽公司網站：www.thermofisher.com 賽默飛世爾科技中國簡介賽默飛世爾科技進入中國發(fā)展已超過35年,，在中國的總部設于上海，并在北京,、廣州,、香港、成都,、沈陽,、西安、南京,、武漢,、昆明等地設立了分公司,，員工人數約為5000名。我們的產品主要包括分析儀器,、實驗室設備、試劑,、耗材和軟件等,，提供實驗室綜合解決方案，為各行各業(yè)的客戶服務,。為了滿足中國市場的需求,，現有7家工廠分別在上海、北京,、蘇州和廣州等地運營,。我們在全國還設立了8個應用開發(fā)中心以及示范實驗室，將世界級的前沿技術和產品帶給中國客戶,，并提供應用開發(fā)與培訓等多項服務,；擁位于上海的中國創(chuàng)新中心，擁有有100多位專業(yè)研究人員和工程師及70多項專利,。創(chuàng)新中心專注于針對垂直市場的產品研究和開發(fā),，結合中國市場的需求和國外先進技術，研發(fā)適合中國的技術和產品,；我們擁有遍布全國的維修服務網點和特別成立的中國技術培訓團隊,，在全國有超過2600名專業(yè)人員直接為客戶提供服務。我們致力于幫助客戶使世界更健康,、更清潔,、更安全。
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科學儀器
| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 場發(fā)射 | 應用領域 | 化工 |
隨著“超越摩爾定律”技術的普及,，封裝和組裝相關缺陷變得越來越難以識別?；ミB更加精細,、更加復雜；芯片和封裝被堆疊并平鋪為復雜結構,。焊點間距更小,，而基板則采用更高的圖案密度和嵌入式組件。缺陷在不斷增加,，缺陷檢測則變得更加困難,。
通過使用具有最高靈敏度的高分辨率鎖相熱成像 (LIT)，Thermo Scientific™ ELITE™ 鎖相紅外熱成像系統系統為各種缺陷類型的通孔封裝缺陷,、片上缺陷甚至板載電氣缺陷的定位提供了一套重要解決方案,，這些缺陷包括電源或線路短路,、ESD 缺陷、電流泄漏,、氧化傷害,、缺陷晶體管和二極管、器件閂鎖以及電阻性開路,。
ELITE 是第一款可為二維和三維器件提供動態(tài)無損實時 LIT 的集成系統,。ELITE 系統的設計采用專有的高靈敏度 InSb 攝像頭、定制光學器件和高級算法,，具有出眾的性能,，并可以在最短時間內獲得結果，通過為失效分析工程師提供根本原因分析所需的關鍵信息,，有效縮短分析學習的周期,。
另外，由于具有所有無損技術中最高的熱靈敏度,，Thermo Scientific™ ELITE™ 鎖相紅外熱成像系統系統能夠檢測具挑戰(zhàn)性的缺陷,，無需開封檢查或從封裝中取出芯片，甚至無需對 IC 器件進行剝層,，因而消除了使用有損方法時意外遺漏故障的風險,。
此外，ELITE 系統可與其他無損技術（例如掃描聲學顯微鏡 (SAM) 或二維和三維 X 射線技術）相結合,，通過傳遞故障位置的精確 x,、 y 和 z 坐標，加快獲得結果的速度并提高成功率,，從而在需要深度信息或存在微小特征時顯著縮小 X 射線和 SAM 的搜索半徑并縮短檢查時間,。ELITE 系統還提供配備固體浸沒透鏡 (SIL) 和 S-LSM 選項的高分辨率光學器件，可實現很高水平的分辨率和圖像質量,。
主要優(yōu)勢：
無損，無需開封檢查,，無需逆向處理,，沒有遺漏或損害缺陷證據的風險
快速識別 精確定位集成電路板上的缺陷元件
定位缺陷在x-y方向有微米精度，深度定位精度 20 μm
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