半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試所需要用到的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備（JW-2008D）

半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)分類

1、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)

應(yīng)用于計(jì)算機(jī),、服務(wù)器,、手機(jī),、有線通信、消費(fèi)電子,、汽車電子等諸多領(lǐng)域的核心部位,。可分為模擬電路,、微處理器,、邏輯電路和存儲(chǔ)器四大類。

2,、分立器件

主要包括晶體二極管,、三極管,、整流二極管,、功率二極管、化合物二極管等,。分立器件被廣泛應(yīng)用在家電,、綠色照明、計(jì)算機(jī),、汽車電子,、網(wǎng)絡(luò)通訊、工業(yè)控制等產(chǎn)品,。

3,、光電器件

主要是利用光、電轉(zhuǎn)換效應(yīng)所制成的各種功能器件,，可分為光器件,、受光器件、光復(fù)合器件等 ,，包括LED,、OLEO、光伏太陽能等,。

4,、傳感器

可分為物理傳感器,、化學(xué)傳感器、生物傳感器等,。主要應(yīng)用于工業(yè)自動(dòng)化,、工業(yè)機(jī)器人、生物工程等領(lǐng)域,。

可靠性試驗(yàn)等級(jí)分類

Region (I) 被稱為早夭期（Infancy period）

這個(gè)階段產(chǎn)品的 failure rate 快速下降,，造成失效的原因在于IC設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過程中的缺陷；

Region (II) 被稱為使用期（Useful life period）

在這個(gè)階段產(chǎn)品的failure rate保持穩(wěn)定,，失效的原因往往是隨機(jī)的,，比如溫度變化等等；

Region (III) 被稱為磨耗期（Wear-Out period）

在這個(gè)階段failure rate 會(huì)快速升高,，失效的原因就是產(chǎn)品的長(zhǎng)期使用所造成的老化等,。