利用觸針直接同樣品接觸的方式進(jìn)行測(cè)量,，觸針以恒定的接觸力從樣品表面劃過從而得到樣品輪廓曲線，直接在此曲線上測(cè)量即可得到膜厚值,，因此,，測(cè)量時(shí)需存在一個(gè)膜層的臺(tái)階，利用電感測(cè)微儀和原子力顯微鏡測(cè)量膜厚時(shí)均有這種要求,。觸針是以恒定的接觸力從樣品表面劃過,，有可能損傷薄膜表面，要根據(jù)薄膜的硬度和后續(xù)工藝需求決定是否選用,，對(duì) 10 nm ～ 100 μm 的厚度均可測(cè)量,。                          

測(cè)量薄膜厚度時(shí)需要光束能透過薄膜層，到達(dá)基底層,，然后返回探測(cè)器中,，因此，該薄膜層需透光或部分波長透光,。是一種無損測(cè)量,，但對(duì)膜層的透光性有要求，優(yōu)勢(shì)在于測(cè)量相對(duì)較薄的膜層,。

建立在電磁感應(yīng)基礎(chǔ)上,，利用線圈的自感或互感系數(shù)的改變來實(shí)現(xiàn)非電量( 主要是 位移) 測(cè)量的儀器,，基準(zhǔn)點(diǎn)和測(cè)量點(diǎn)的選擇對(duì)膜層厚度有一定影響，要盡量使基準(zhǔn)點(diǎn)和測(cè)量點(diǎn)靠近,。適用于硬度較高的膜層,。

利用電子束在樣品表面掃描，激發(fā)出二次電子,、背散射電子,、X 射線等信號(hào)，檢測(cè)這些信號(hào)得到樣品表面形貌圖,，一般會(huì)對(duì)樣品三維尺寸有要求,，需觀察樣品的側(cè)面,，測(cè)量大于0.7μm的膜厚時(shí)可采用，電子束對(duì)不導(dǎo)電的聚合物樣品會(huì)有損傷,。

利用光學(xué)原理將樣品成像經(jīng)物鏡投射至目鏡,，將樣品放大成虛像，再進(jìn)行測(cè)量的儀器適用于較薄 (小于0,5 μm) 的膜層,，大測(cè)量高度受掃描器伸縮能力的限制,；分辨率相對(duì)較低，適用于μm 級(jí)膜層,。