透射電子顯微鏡解決方案

來源：奧達科學有限公司 2022年04月24日 09:06

　　透射電子顯微鏡(簡稱TEM),可以看到在光學下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構,。要想看清這些結構,，就必須選擇更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率,。

　　1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡,，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發(fā)射電子束的平方根成反比,，也就是說電壓越高波長越短,。目前TEM的分辨力可達0.2nm。

　　透射電子顯微鏡解決方案在電子槍和聚光透鏡之間引入脈沖發(fā)生器,，該脈沖發(fā)生器可通過皮秒級射頻電激發(fā)電子束并可保持原始掃描電鏡的光束質量,，并在脈沖發(fā)生器關閉時對正常操作的影響最小(理想情況下沒有)。

　　同時采用飛秒激光泵浦樣品聯動,，該解決方案結合了脈沖發(fā)生器的百皮秒時間分辨率和透射電子顯微鏡的固有空間分辨率,，可進行超高時間和空間分辨的成像、微區(qū)衍射以及能譜分析,，實現對樣品的超快表征。

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