JEM-F200 日本電子JEOL 場發(fā)射透射電鏡F200
- 公司名稱 上海途哲電子設(shè)備有限公司
- 品牌 日本電子
- 型號 JEM-F200
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/5/12 14:45:54
- 訪問次數(shù) 39
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靜電放電模擬器,,ESD測試儀、雷擊浪涌測試儀,,高低溫試驗箱,,快速溫變試驗箱,冷熱沖擊試驗箱,,恒溫恒濕試驗箱,,高速攝像機,顯微鏡,、掃描電鏡,、第三方檢驗檢測業(yè)務(wù)等。
價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 熱場發(fā)射 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,綜合 |
JEM-F200的外觀和操作模式基于“智能化”的理念進行了全新的設(shè)計,。全新的人機界面使得用戶可以專注于電鏡觀察和分析工作,。得益于日本電子在電子光學(xué)領(lǐng)域多年的積累,新設(shè)備采用了球差電鏡的高穩(wěn)定度的設(shè)計理念,,該設(shè)備的機械穩(wěn)定度和電氣穩(wěn)定度得以大大改善,,從而可以保證更加出色的性能。
JEM-F200 配置肖特基場發(fā)射電子槍,,或者冷場發(fā)射電子槍*,,高亮度和高穩(wěn)定性的場發(fā)射電子槍可以極大提高觀察和分析效率。
對于冷場電子槍,,可以獲得更高亮度和更小能量發(fā)散度的電子源,,亮度高于8x108A/cm2·sr,能量發(fā)散度可以低至0.3eV,,在圖像質(zhì)量和分析效果上更勝yichou,,更適合行高能量分辨率的EELS分析,,可以對樣品進行精細的化學(xué)結(jié)合態(tài)分析
JEM-F200上引入了全新的四級聚光鏡設(shè)計,可以滿足日益增加的各種應(yīng)用,。在這個全新系統(tǒng)的支持下,,前兩級聚光鏡可以控制束斑尺寸和束流強度,其形成的電子?xùn)|交叉點可以固定在特定的位置,,然后通過后兩級聚光鏡實現(xiàn)照明區(qū)域和匯聚角度的控制,。除此外,在TEM模式成像中非常重要的平行光照明模式可以像傳統(tǒng)電鏡一樣輕松實現(xiàn),。該系統(tǒng)的使用可以輕松得到高質(zhì)量的明場和暗場圖像,。