X射線薄膜測厚儀的檢測原理及優(yōu)勢

測厚儀（薄膜測厚儀）使用軟X射線（soft X-rays）,。以非接觸方式（軟 X 射線）測量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）,。不是直接測量厚度,，而是通過與參考材料比較來計算厚度和密度（基重）,。
　通常,，為了測量片材寬度方向的厚度分布,，檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并測量。激光位移計一般用作非接觸式測量厚度的手段,，但如果將激光位移計安裝在掃描儀上,，則在運輸過程中只能以遠低于激光位移計的精度進行運輸。運輸,，導致結果,。高精度的測量是困難的。
　另一方面,，在X射線測厚儀等通過透射衰減估算厚度的方法中,，測量的是空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減，但樣品的衰減遠大于,，傳輸的影響只表現(xiàn)為空氣層厚度的變化,，影響較小。因此,，可以高精度地測量,。

X 射線測厚儀的一般特點

1. 無需規(guī)定放射線處理負責人或X射線工作負責人或設置控制區(qū)域
   （需要通知勞動標準檢查辦公室）
   

2. 路徑錯誤可以忽略
   

3. 元素依賴性大
   

與傳統(tǒng)的軟 X 射線測厚儀相比，我們的軟 X 射線測厚儀的特點

1. 探測器和 X 射線源結構緊湊,、重量輕,，甚至可以安裝在狹窄的線路中。
   

2. 寬測量范圍（材料/厚度）
   

采用

• 銅箔、鋁箔,、不銹鋼箔
  

• 電池電極
  

• 陶瓷（片材,、晶片）
  

• 玻璃纖維布