日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851

熒光X射線膜厚計EX-851的特點

自動對焦

將測量單元對準激光指示器的位置，然后關(guān)上門以自動移至測量值并執(zhí)行測量,。測量后,，打開門，載物臺將自動返回到前面,。

采用雙重過濾器

通過使用除數(shù)值濾波器以外的機械濾波器（雙重濾波器）,，可以在jia條件下進行測量，從而始終獲得gao的精度,。

完整的報告創(chuàng)建功能

通過采用MS-Windows軟件,，可以輕松捕獲測量屏幕,，并增強報告創(chuàng)建功能。使用多任務功能,，即使在測量期間也可以進行包括報告創(chuàng)建在內(nèi)的其他處理,。

5種準直儀

小準直儀為0.1φmm，可以測量極小的零件,。標準,，0.1、0.2,、0.5,、1.0、2.0
另外,，有兩種特殊規(guī)格可供選擇,。
? 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
? 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自診斷功能和X射線管維護功能

使用自診斷功能，可以迅速解決設(shè)備故障,。此外,，增加了顯示X射線管使用時間和使用壽命的功能,，以支持維護安全,。

膜厚測量中的頻譜顯示

通過多通道進行光譜分析高速處理使顯示被測物的光譜變得容易。（處理速度約2-3秒）

在測量部分顯示監(jiān)控圖像

在Windows屏幕上捕獲X射線照射單元并顯示X射線照射單元,。準直儀提供了改變尺寸的放大倍率功能,。

可視顯示測量對象的鍍層附著力分布

三維圖形顯示可輕松查看測量對象的鍍層厚度分布。

Be 窗口X射線管（選件）提高的性能（高精度）

我們已經(jīng)為熒光X射線膠片厚度計準備了Be窗口X射線管,。

通過使用Be窗口X射線管,，Cr測量和Ni測量的重復測量精度顯著提高。

與標準X射線管的比較

Sn等的高能量（高原子序數(shù)）測定與以前相同,。

當測量低能量（低原子序數(shù)）的Cr和Ni時,，Cr的重復性提高了約3倍，Ni的重復性提高了約2倍,。

當測量兩層時,，中間層中Ni的測量精度提高了約20％。

通過使用Be窗口X射線管,，Cr的熒光X射線強度比常規(guī)標準設(shè)備的熒光X射線強度高大約9倍,。

因此，可以在短時間內(nèi)以與以前相同的精度進行測量,。

請考慮使用此Be窗口X射線管,。

日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851

熒光X射線膜厚計EX-851的規(guī)格

（注）規(guī)格如有變更，恕不另行通知,。