場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡廠家告訴你,場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的基本構(gòu)造分析
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種,,廣泛用于生物學(xué),、醫(yī)學(xué)、金屬材料,、高分子材料,、化工原料、地質(zhì)礦物,、商品檢驗(yàn),、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定,、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析,。可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料,、無(wú)機(jī)材料及在上述微米,、納米級(jí)樣品的表面特征。
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的基本構(gòu)造:
電子槍:也稱電子源,,產(chǎn)生連續(xù)不斷的穩(wěn)定的電子流,。場(chǎng)發(fā)射電子槍與普通鎢絲電子槍有所不同,陰極呈桿狀,,在它的一端有個(gè)極鋒利的尖點(diǎn)(直徑小于100nm),,尖端的電場(chǎng)*,電子直接依靠“隧道”穿過(guò)勢(shì)壘離開陰極,,由加速電壓加速產(chǎn)生高速電子流飛向樣品,。一般來(lái)說(shuō),掃描電鏡加速電壓通常為1-30kV,。
電子透鏡:將從電子槍發(fā)射出來(lái)的電子匯聚成直徑最小為1-5nm電子束,。
掃描系統(tǒng):使電子束作光柵掃描運(yùn)動(dòng),。
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