使用臺階儀或其他萬分尺長度量測儀器，單層能到到準確的數(shù)值,，操做簡單,，多層不能直接測量，要做出相對厚度,，有臺階的樣品或其他才可以測量,。

  使用我們反射式膜厚測試，直接根據(jù)材料特性（單層/多層）設(shè)置好菜單,，通過標準硅片校準后,，直接一鍵量測，直接測量出單層/多層膜厚，不會對產(chǎn)品造成損傷,，可以離線也可以在線量測。測量多層膜厚基本上不需要單獨制樣,，只是在解析某一膜層折射率（材料庫無信息）時有初次制樣需求,。

  反射式膜厚測量儀可用于測量：半導(dǎo)體鍍膜，手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度,，PET柔性涂布的膠厚等厚度,，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合,。可測量：2nm到3000μm的膜厚,，測量精度達到0.1nm。 在折射率未知的情況下,，還可用于同時對折射率和膜厚進行測量,。此外，設(shè)備也可用于準確測量樣品的顏色和反射率,。樣品光斑在1mm以內(nèi),。
  進行測量簡單可靠，實際測量采樣時間低于1秒,。

  配合我們的專*軟件進行手動測量,，每次測量時間低于5秒。軟件支持50層膜以內(nèi)的模型并可對多層膜厚參數(shù)進行測量,。我們軟件擁有近千種材料的材料數(shù)據(jù)庫,，同時支持函數(shù)型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學(xué)（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。

  同時,，客戶還可以通過軟件自帶數(shù)據(jù)庫對材料,，菜單進行管理并回溯檢查測量結(jié)果。