射線激發(fā)量的靈活性很大,,激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變,。通過硅漂移探測器,在 > 10萬cps(每秒計數(shù)率) 的超高信號量下也可以正常工作,,而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低,。極低的檢測下限和出色的測量重復(fù)度,。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
德國菲希爾FISCHERSCOPE? X-RAY XDV?-SDD高性能熒光測試儀
配有可編程XY平臺和Z軸,可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測試儀儀器特點
- 高級型號儀器,,具有常見的所有功能
- 射線激發(fā)量的靈活性很大,,激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
- 通過硅漂移探測器,在 > 10萬cps(每秒計數(shù)率) 的超高信號量下也可以正常工作,,而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低
- 極低的檢測下限和出色的測量重復(fù)度
- 帶有快速,、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
- 大容量便于操作的測量艙
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測試儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 測量極薄的鍍層,,例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
- 痕量分析,,例如根據(jù) RoHS,、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對有害物質(zhì)進行檢測
- 進行高精度的黃金和貴金屬分析
- 光伏產(chǎn)業(yè)
- 測量 NiP 鍍層的厚度和成分
X射線測厚儀原理
XRAY測厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉(zhuǎn)換測量厚度的,即測量被測鋼板所吸收的X射線量,,根據(jù)該X射線的能量值,,確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉(zhuǎn)換為電信號,,經(jīng)過前置放大器放大,再由測厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號,。
X射線測厚儀適用范圍
XRAY測厚儀適用于生產(chǎn)鋁板,、銅板,、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè),,可以與軋機配套,,應(yīng)用于熱軋,、鑄軋,、冷軋、箔軋,。其中,XRAY測厚儀還可以用于冷軋,、箔軋和部分熱軋的軋機生產(chǎn)過程中對板材厚度進行自動控制。
菲希爾電解測厚儀 - 用于庫侖電量分析的涂層厚度測量儀器,。