FISCHERSCOPE XDLM X射線熒光測厚儀

        用于對電路板,、電子元件和批量零件的涂層厚度進行手動或自動測量，也適用于小型結構
        X射線熒光測試儀,，可在微小樣品上,，手動或全自動測量印刷線路板、電子元件和大規(guī)模生產零部件上的鍍層厚度,。包括鎳層測厚,、化鎳厚度等。

FISCHERSCOPE XDLM X射線熒光測厚儀特點

• 通用性極廣,，因為配備了微聚焦管,、4個可切換準直器和 3 個基本濾片
• 適用于微小結構,，如接插件或線路板
• 還適用于遠距離測量（DCM方法，范圍0-80 mm）
• 底部C型開槽的大容量測量艙
• 可編程的臺式設備,，用于自動測量 

典型應用領域

•  測量印刷線路板工業(yè)中,，薄金、鈀和鎳鍍層,。鎳層測厚,、化鎳厚度

• 測量接插件鍍層和觸點鍍層。

• 在電子和半導體行業(yè)中測量功能性鍍層,。

• 黃金,、珠寶和鐘表工業(yè)。

　　X射線測厚儀原理

　　XRAY測厚儀原理是根據XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的,，即測量被測鋼板所吸收的X射線量,，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度,。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號,，經過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統(tǒng)轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號,。

　　X射線測厚儀適用范圍

　　XRAY測厚儀適用于生產鋁板、銅板,、鋼板等冶金材料為產品的企業(yè),，可以與軋機配套，應用于熱軋,、鑄軋,、冷軋、箔軋,。其中,，XRAY測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產過程中對板材厚度進行自動控制,。

　　菲希爾電解測厚儀 - 用于庫侖電量分析的涂層厚度測量儀器,。