ICP-MS 單顆粒分析技術(shù)（SP-ICP-MS）的出現(xiàn)和發(fā)展使得不同基體和應(yīng)用中的金屬顆粒的快速檢測(cè)和分析成為可能，并因此開創(chuàng)了一個(gè)全新的研究領(lǐng)域,。SP-ICP-MS 的特點(diǎn)是可以檢測(cè)到帶正電荷的離子產(chǎn)生的不連續(xù)的脈沖,，并以微秒記的數(shù)據(jù)采集速率獲得時(shí)間分辨信號(hào)。這種先進(jìn)的數(shù)據(jù)采集能力使得開辟一系列新的研究領(lǐng)域成為可能,。本文將SP-ICP-MS 應(yīng)用于SC-ICP-MS,，介紹了ICP-MS 單細(xì)胞分析技術(shù)（SC-ICP-MS），該技術(shù)可快速分析單個(gè)細(xì)胞中的金屬含量,。通過在細(xì)胞水平上監(jiān)測(cè)細(xì)胞吸收順鉑的能力,，我們探究了抗癌藥物的有效性，加強(qiáng)了對(duì)細(xì)胞與含金屬的物質(zhì)之間交互作用的了解,。SC-ICP-MS 可以讓用戶檢測(cè)單個(gè)細(xì)胞中本身含有的金屬量以及離子或者納米顆粒污染物，此方法可以減少實(shí)驗(yàn)中使用的細(xì)胞數(shù)量,，并且無需復(fù)雜的樣品前處理過程,。
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