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ZetaPALS-高靈敏度Zeta電位儀 詳細(xì)摘要:. . . .ZetaPALS是目前*能夠精確測量低電泳遷移率體系的Zeta電位分析儀器,它采用的是真正的硬件PALS(Phase Analysis Scattering,,相位分析光散射)技術(shù),,比其它測量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍!
所在地:北京北京市 更新時間:2025-06-26 在線留言 -
ZetaPlus型-Zeta電位儀 詳細(xì)摘要:. . . .ZetaPlus是簡單,、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測量儀器,,其*的開放式樣品槽設(shè)計與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合,使其具有*的分辨率,,足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況,。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響,,從而使
所在地:北京北京市 更新時間:2025-06-26 在線留言 -
BI-2010/2020-粘度檢測器 詳細(xì)摘要:BI-2010粘度檢測器采用全新專利技術(shù)的毛細(xì)管全橋式設(shè)計,具有高靈敏,、低展寬,、低噪音和節(jié)約測量時間等特點,其溫控可從室溫達(dá)到80℃,。利用BI-2010可得到特征粘度,,對樣品進行同樣校正,從而得到真實分子量和結(jié)構(gòu)信息,。特征粘度的檢測結(jié)合Mark-Houwink曲線,,
所在地:北京北京市 更新時間:2025-06-24 在線留言 -
Omni-Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 詳細(xì)摘要:Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),,擁有15°,、90°與173°三個散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,,硬件PALS技術(shù)*
所在地:北京北京市 更新時間:2025-06-23 在線留言 -
Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 詳細(xì)摘要:Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°,、90°與173°三個散射角度,,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術(shù)*
所在地:北京北京市 更新時間:2025-06-23 在線留言 -
BI-200SM-廣角度動/靜態(tài)激光散射儀 詳細(xì)摘要:廣角度動/靜態(tài)激光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關(guān)器,,通過動態(tài)光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況,,通過靜態(tài)光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry,、Debye曲線,、分子量、均方根回旋半徑及第二維里系數(shù),。經(jīng)國內(nèi)外眾多*實驗室使用,,證明BI-200SM
所在地:北京北京市 更新時間:2025-06-06 在線留言 -
激光粒度儀及Zeta電位分析儀 詳細(xì)摘要:它不僅適用于水相體系,還適用于溶劑,、高鹽濃度,、油相及等電點附近測量等特殊體系,。
所在地:國外 更新時間:2025-06-06 在線留言 -
圓盤式離心/沉降粒度儀 詳細(xì)摘要:BI-DCP是數(shù)字式控制的高分辨率,、高準(zhǔn)確度的顆粒粒度分析儀,它完善的硬件設(shè)計集中體現(xiàn)了90年代離心/沉降原理粒度測試儀器的全部技術(shù)精華,。
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BI-870-介電常數(shù)測定儀 詳細(xì)摘要:精確的介電常數(shù)值對于Zeta電位的測量與計算是非常重要的,。由于混合溶劑的介電常數(shù)無法直接從手冊中查到,因而對于混合溶劑的介電常數(shù)的測量就顯得非常必要,。全新的BI-870介電常數(shù)測定儀不僅操作簡單,,而且也為Zeta的測量提供了可靠的保證. 純凈液體的介電常
所在地:北京北京市 更新時間:2025-06-06 在線留言 -
90Plus-納米/亞微米激光粒度儀 詳細(xì)摘要:90Plus納米/亞微米激光粒度儀基于動態(tài)光散射原理,,是一種快速、便捷的納米,、亞微米粒度分析測試儀器,。
所在地:北京北京市 更新時間:2025-06-06 在線留言 -
FOQELS-高濃度激光分析儀 詳細(xì)摘要: 作為Z先將光導(dǎo)纖維引入高濃度粒度分析的廠家,布魯克海文公司對光纖技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)進行了*結(jié)合,,從而推出FOQELS(Fiber Optic Quasi Elastic Light Scattering),。與經(jīng)典的動態(tài)光散射粒度分析儀不同的是,F(xiàn)OQELS采用了*的背向光散射測量技術(shù),,使
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BI-DCP-圓盤式離心/沉降粒度儀 詳細(xì)摘要: BI-DCP是基于經(jīng)典的離心/沉降原理,,通過高精度的數(shù)字式電機控制,是迄今為止具有統(tǒng)計意義的粒度儀中分辨率,、準(zhǔn)確率Z高的測量儀器,。廣泛應(yīng)用于膠乳、碳黑,、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面,。
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BI-XDC-圓盤式離心/沉降粒度儀 詳細(xì)摘要: BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理,通過高精度的數(shù)字式電機控制,,是迄今為止具有統(tǒng)計意義的粒度儀中分辨率,、準(zhǔn)確率Z高的測量儀器。廣泛應(yīng)用于膠乳,、碳黑,、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面。
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ZetaPLus型-Zeta電位及粒度分析儀 詳細(xì)摘要: ZetaPlus是簡單,、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測量儀器,,其*的開放式樣品槽設(shè)計與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合,使其具有*的分辨率,,足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況,。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響,從而使測量
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ZetaPALS型-高分辨率Zeta電位及粒度分析儀 詳細(xì)摘要:Zeta電位及粒度分析儀是目前*能夠精確測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器,,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù),,比其它測量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍!
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BI-ZTU-自動滴定儀 詳細(xì)摘要:自動滴定儀是作為zeta電位及粒度分析儀的選件,,配合流動型樣品池使用,,可自動進行酸、堿,、鹽離子和表面活性劑滴定以及Zeta電位與粒度測量,,免去人工配制不同的pH值、離子濃度或表面活性劑濃度的麻煩,,降低實驗工作強度的同時縮短了測量時間,。
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BI-MwA-多角度激光光散射(分子量測定)儀 詳細(xì)摘要:美國布魯克海文儀器公司一直被*為光散射領(lǐng)域的,,它的每一項技術(shù)都代表著世界Z高水平?;诙嗄旯馍⑸浼夹g(shù)和經(jīng)驗開發(fā)研制的BI-MwA多角度激光光散射(分子量測定)儀對光散射儀器進行了開創(chuàng)性的革新,,解決了分子量測定中存在的諸多問題,使得分子量表征更加客觀與
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BI-DNDC-示差折射儀 詳細(xì)摘要:BI-DNDC示差折射儀按測量方式區(qū)分:在靜態(tài)方式下是測量聚合物溶液dn/dc值的專用儀器,。采用注射器(2~2.5mL)直接進樣,,樣品溶液濃度范圍0.1~10mg/mL。在動態(tài)方式下作為凝膠色譜系統(tǒng)的在線示差檢測器,。采用進樣閥進樣,,由蠕動泵或HPLC泵驅(qū)動。
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TurboCorr-數(shù)字相關(guān)器 詳細(xì)摘要:TurboCorr數(shù)字相關(guān)器是對取得巨大成功的BI-9000的全面更新:它使用了的DSP技術(shù),,令體積大為縮小,。與其前一代產(chǎn)品相比,TurboCorr隨著功率的大幅降低與USB端口的應(yīng)用,,使得全套系統(tǒng)有了突出的便攜性與兼容性,,可為筆記本電腦控制。
所在地:北京北京市 更新時間:2025-06-06 在線留言 -
NanoDLS-高靈敏在線粒度分析儀 詳細(xì)摘要:NanoDLS高靈敏在線粒度分析儀基于動態(tài)光散射原理,,采用專利的樣品池設(shè)計,,可在流動狀態(tài)下實時測量粒度及其分布的功能。
所在地:北京北京市 更新時間:2025-06-06 在線留言