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ZetaPALS-高靈敏度Zeta電位儀 詳細(xì)摘要:. . . .ZetaPALS是目前*能夠精確測(cè)量低電泳遷移率體系的Zeta電位分析儀器,,它采用的是真正的硬件PALS(Phase Analysis Scattering,,相位分析光散射)技術(shù),比其它測(cè)量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍,!
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2025-06-26 在線留言 -
ZetaPlus型-Zeta電位儀 詳細(xì)摘要:. . . .ZetaPlus是簡(jiǎn)單,、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測(cè)量?jī)x器,其*的開(kāi)放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合,,使其具有*的分辨率,,足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測(cè)量?jī)x器中固有的電滲誤差的影響,,從而使
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BI-2010/2020-粘度檢測(cè)器 詳細(xì)摘要:BI-2010粘度檢測(cè)器采用全新專利技術(shù)的毛細(xì)管全橋式設(shè)計(jì),,具有高靈敏、低展寬,、低噪音和節(jié)約測(cè)量時(shí)間等特點(diǎn),,其溫控可從室溫達(dá)到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度,,對(duì)樣品進(jìn)行同樣校正,,從而得到真實(shí)分子量和結(jié)構(gòu)信息,。特征粘度的檢測(cè)結(jié)合Mark-Houwink曲線,
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Omni-Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 詳細(xì)摘要:Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,,相位分析光散射)技術(shù),,擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度,,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,,硬件PALS技術(shù)*
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言 -
Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 詳細(xì)摘要:Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),,擁有15°,、90°與173°三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,,硬件PALS技術(shù)*
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2025-06-23 在線留言 -
BI-200SM-廣角度動(dòng)/靜態(tài)激光散射儀 詳細(xì)摘要:廣角度動(dòng)/靜態(tài)激光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關(guān)器,,通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射的方法可以測(cè)量小至1nm的納米顆粒分布情況,通過(guò)靜態(tài)光散射的方法可測(cè)量高分子材料的Zimm,、Berry,、Debye曲線、分子量,、均方根回旋半徑及第二維里系數(shù),。經(jīng)國(guó)內(nèi)外眾多*實(shí)驗(yàn)室使用,證明BI-200SM
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激光粒度儀及Zeta電位分析儀 詳細(xì)摘要:它不僅適用于水相體系,,還適用于溶劑,、高鹽濃度、油相及等電點(diǎn)附近測(cè)量等特殊體系,。
所在地:國(guó)外 更新時(shí)間:2025-06-06 在線留言 -
圓盤(pán)式離心/沉降粒度儀 詳細(xì)摘要:BI-DCP是數(shù)字式控制的高分辨率,、高準(zhǔn)確度的顆粒粒度分析儀,它完善的硬件設(shè)計(jì)集中體現(xiàn)了90年代離心/沉降原理粒度測(cè)試儀器的全部技術(shù)精華,。
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BI-870-介電常數(shù)測(cè)定儀 詳細(xì)摘要:精確的介電常數(shù)值對(duì)于Zeta電位的測(cè)量與計(jì)算是非常重要的,。由于混合溶劑的介電常數(shù)無(wú)法直接從手冊(cè)中查到,因而對(duì)于混合溶劑的介電常數(shù)的測(cè)量就顯得非常必要,。全新的BI-870介電常數(shù)測(cè)定儀不僅操作簡(jiǎn)單,,而且也為Zeta的測(cè)量提供了可靠的保證. 純凈液體的介電常
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90Plus-納米/亞微米激光粒度儀 詳細(xì)摘要:90Plus納米/亞微米激光粒度儀基于動(dòng)態(tài)光散射原理,是一種快速,、便捷的納米,、亞微米粒度分析測(cè)試儀器。
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FOQELS-高濃度激光分析儀 詳細(xì)摘要: 作為Z先將光導(dǎo)纖維引入高濃度粒度分析的廠家,,布魯克海文公司對(duì)光纖技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了*結(jié)合,,從而推出FOQELS(Fiber Optic Quasi Elastic Light Scattering)。與經(jīng)典的動(dòng)態(tài)光散射粒度分析儀不同的是,F(xiàn)OQELS采用了*的背向光散射測(cè)量技術(shù),,使
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BI-DCP-圓盤(pán)式離心/沉降粒度儀 詳細(xì)摘要: BI-DCP是基于經(jīng)典的離心/沉降原理,,通過(guò)高精度的數(shù)字式電機(jī)控制,是迄今為止具有統(tǒng)計(jì)意義的粒度儀中分辨率,、準(zhǔn)確率Z高的測(cè)量?jī)x器,。廣泛應(yīng)用于膠乳、碳黑,、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面,。
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BI-XDC-圓盤(pán)式離心/沉降粒度儀 詳細(xì)摘要: BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理,通過(guò)高精度的數(shù)字式電機(jī)控制,,是迄今為止具有統(tǒng)計(jì)意義的粒度儀中分辨率,、準(zhǔn)確率Z高的測(cè)量?jī)x器。廣泛應(yīng)用于膠乳,、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面,。
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ZetaPLus型-Zeta電位及粒度分析儀 詳細(xì)摘要: ZetaPlus是簡(jiǎn)單,、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測(cè)量?jī)x器,其*的開(kāi)放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合,,使其具有*的分辨率,,足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測(cè)量?jī)x器中固有的電滲誤差的影響,,從而使測(cè)量
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ZetaPALS型-高分辨率Zeta電位及粒度分析儀 詳細(xì)摘要:Zeta電位及粒度分析儀是目前*能夠精確測(cè)量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器,,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù),比其它測(cè)量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍,!
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BI-ZTU-自動(dòng)滴定儀 詳細(xì)摘要:自動(dòng)滴定儀是作為zeta電位及粒度分析儀的選件,,配合流動(dòng)型樣品池使用,可自動(dòng)進(jìn)行酸,、堿,、鹽離子和表面活性劑滴定以及Zeta電位與粒度測(cè)量,免去人工配制不同的pH值,、離子濃度或表面活性劑濃度的麻煩,,降低實(shí)驗(yàn)工作強(qiáng)度的同時(shí)縮短了測(cè)量時(shí)間。
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BI-MwA-多角度激光光散射(分子量測(cè)定)儀 詳細(xì)摘要:美國(guó)布魯克海文儀器公司一直被*為光散射領(lǐng)域的,,它的每一項(xiàng)技術(shù)都代表著世界Z高水平,。基于多年光散射技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)開(kāi)發(fā)研制的BI-MwA多角度激光光散射(分子量測(cè)定)儀對(duì)光散射儀器進(jìn)行了開(kāi)創(chuàng)性的革新,,解決了分子量測(cè)定中存在的諸多問(wèn)題,,使得分子量表征更加客觀與
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BI-DNDC-示差折射儀 詳細(xì)摘要:BI-DNDC示差折射儀按測(cè)量方式區(qū)分:在靜態(tài)方式下是測(cè)量聚合物溶液dn/dc值的專用儀器。采用注射器(2~2.5mL)直接進(jìn)樣,樣品溶液濃度范圍0.1~10mg/mL,。在動(dòng)態(tài)方式下作為凝膠色譜系統(tǒng)的在線示差檢測(cè)器,。采用進(jìn)樣閥進(jìn)樣,由蠕動(dòng)泵或HPLC泵驅(qū)動(dòng),。
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TurboCorr-數(shù)字相關(guān)器 詳細(xì)摘要:TurboCorr數(shù)字相關(guān)器是對(duì)取得巨大成功的BI-9000的全面更新:它使用了的DSP技術(shù),,令體積大為縮小。與其前一代產(chǎn)品相比,,TurboCorr隨著功率的大幅降低與USB端口的應(yīng)用,,使得全套系統(tǒng)有了突出的便攜性與兼容性,可為筆記本電腦控制,。
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NanoDLS-高靈敏在線粒度分析儀 詳細(xì)摘要:NanoDLS高靈敏在線粒度分析儀基于動(dòng)態(tài)光散射原理,,采用專利的樣品池設(shè)計(jì),可在流動(dòng)狀態(tài)下實(shí)時(shí)測(cè)量粒度及其分布的功能,。
所在地:北京北京市 更新時(shí)間:2025-06-06 在線留言