雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀是一個專為高精度元素分析所設計的儀器。此雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀提供了固體金屬與絕緣體的直接分析檢測,。它具有非常寬的元素覆蓋范圍,，可得到超過70種元素的有效數(shù)據(jù)，靈敏度高,，輕元素重元素均可,。
目前，本產(chǎn)品結合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質(zhì)量分析器,，可以定性定量分析固體樣品中包括C,、N、O在內(nèi)的幾乎所有元素,，是直接,、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的較佳工具。
雙聚焦輝光放電質(zhì)譜儀集中了輝光放電和高分辨質(zhì)譜的優(yōu)勢,，在以下方面有杰出表現(xiàn)：
1,、樣品測試通量高：ELEMENT GD離子源和樣品夾的設計使可縮短換樣和分析時間，顯著提高生產(chǎn)率,；
2,、檢測器線性范圍寬：檢測器線性范圍達12個數(shù)量級，可一次掃描同時檢測基體和痕量元素組成,；
3,、具有固定寬度的低、中,、高分辨率狹縫,，采用高分辨率可直接分析有質(zhì)譜干擾的同位素,。
該儀器的主要特性：
1、低至亞ppb級的定量數(shù)據(jù),；
2,、具有深度剖面同位素比值分析能力；
3,、少的樣品制備過程,；
4、高分辨率,，特別是對于有干擾離子存在的測定而言十分重要,；
5、廣泛的元素涵蓋范圍,，軟件中包括70個元素相關的干擾離子數(shù)據(jù),；
6、由于原子化和離子化過程發(fā)生在不同區(qū)域,，帶來可忽略的基體效應,。
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