電感耦合等離子體質(zhì)譜分析技術(shù)是以等離子體為離子源,，以質(zhì)譜進行檢測的無機多元素分析技術(shù)，主要用于多元素同時測定,，并可與其他色譜分離技術(shù)聯(lián)用,，進行元素價態(tài)分析，適用于各類材料中從痕量到微量元素分析,，尤其是痕量金屬元素的測定,。
該技術(shù)是根據(jù)被測元素通過一定形式進入高頻等離子體中，在高溫下電離成離子,，產(chǎn)生的離子經(jīng)過離子光學(xué)透鏡聚焦后進入質(zhì)譜分析器,，按照荷質(zhì)比分離，既可以按照荷質(zhì)比進行半定量分析，也可以按照特定荷質(zhì)比的離子數(shù)目進行定量分析,。
賽默飛電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ELEMENT2/XR是獲得認可的痕量元素分析和定量的技術(shù),，可以同時分析周期表中的幾乎所有元素，濃度范圍從mg/L到pg/L ,；兼容無機和有機溶液的基體和固體樣品,。利用高分辨率直接分析有干擾的同位素；的確信不含干擾的元素圖譜,；瞬時信號的多元素檢出器,；并能與多種進樣和分離技術(shù)聯(lián)用，例如激光進樣,。其應(yīng)用范圍從半導(dǎo)體工業(yè)到地質(zhì)和環(huán)保分析,、從生物研究到材料科學(xué)。 ICP-MS嚴重的限制是元素信號的多原子干擾,，這種干擾主要來自氬或樣品基質(zhì),。 高質(zhì)量分辨率是識別和消除干擾的標(biāo)準(zhǔn)。 即使沒有樣品制備步驟,，消除干涉也能準(zhǔn)確可靠地進行痕量級多元素定量分析,。目前，已經(jīng)安裝使用的ELEMENT XR已超過600臺,，服務(wù)于環(huán)境監(jiān)測,、核科學(xué)、地球科學(xué),、材料科學(xué)等各個領(lǐng)域,。
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